[发明专利]一种共焦扫面显微镜光源调制方法有效
| 申请号： | 201811525282.1 | 申请日： | 2018-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN109917538B | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 张金莲;张杰 | 申请（专利权）人： | 南京智博医疗器械有限公司 |
| 主分类号： | G02B21/00 | 分类号： | G02B21/00;G02B21/06 |
| 代理公司： | 北京智丞瀚方知识产权代理有限公司 11810 | 代理人： | 杨乐 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 共焦扫面 显微镜 光源 调制 方法 | ||
1.一种共焦扫面显微镜光源调制方法，其特征在于，包括如下步骤：
采用光源功率调制器对光源进行调制，对光源的发射端功率通过所述光源功率调制器按正弦曲线或余弦曲线进行非线性调制；
对光源输出端在快速共振镜的正向扫描采样窗口和逆向扫描采样窗口同时进行功率调制；或对光源输出端在正向扫描采样窗口进行功率调制；或者对光源输出端在逆向扫描采样窗口进行功率调制。
2.根据权利要求1所述共焦扫面显微镜光源调制方法，其特征在于，所述光源功率调制器为声光调制器AOM。
3.根据权利要求2所述共焦扫面显微镜光源调制方法，其特征在于，对光源的发射端功率通过声光调制器AOM进行非线性调制，得到光源在样本空间的辐射量分布：
I′(x)＝ΔI(x)/Δx＝k·P0/ω
其中：ΔI(x)为扫描样本的单位空间尺寸接收到的辐射量；Δx为位置；k是AOM的衰减系数，为一个常数；P0是光源的发射端功率；ω为快速共振镜的角速度。
4.一种共焦扫面显微镜光源调制方法，其特征在于，包括如下步骤：
采用光源功率调制器对光源进行调制，对光源的发射端功率通过所述光源功率调制器按正弦曲线或余弦曲线进行非线性调制；
对光源输出端在快速共振镜的正向扫描图像窗口和逆向扫描图像窗口同时进行功率调制；或对光源输出端在正向扫描图像窗口进行功率调制；或，对光源输出端在逆向扫描图像窗口进行功率调制。
5.根据权利要求4所述共焦扫面显微镜光源调制方法，其特征在于，所述光源功率调制器为声光调制器AOM。
6.根据权利要求5所述共焦扫面显微镜光源调制方法，其特征在于，对光源的发射端功率通过声光调制器AOM进行非线性调制，得到光源在样本空间的辐射量分布：
I′(x)＝ΔI(x)/Δx＝k·P0/ω
其中：ΔI(x)为扫描样本的单位空间尺寸接收到的辐射量，x为位置；Δx为位置偏移量；k是AOM的衰减系数，为一个常数；P0是光源的发射端功率；ω为快速共振镜的角速度。
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