[发明专利]激光作用下液晶光栅器件衍射效率的测量装置及方法有效
申请号: | 201811523904.7 | 申请日: | 2018-12-13 |
公开(公告)号: | CN109407365B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 赵元安;彭丽萍;刘晓凤;李大伟;邵建达;邵宇辰;吴金明;马浩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 作用 液晶 光栅 器件 衍射 效率 测量 装置 方法 | ||
1.一种激光作用下液晶光栅器件衍射效率的测量方法,采用激光作用下液晶光栅器件衍射效率的测量装置,该测量装置包括:连续探测激光器(1)、分束镜(2)、可供样品放置的样品台(5)、泵浦激光器(7)、吸收池(8)和计算机(9),其特征在于,还包括第一光束质量分析仪(3)和第二光束质量分析仪(6),所述计算机(9)的输入端分别与所述第一光束质量分析仪(3)的输出端和第二光束质量分析仪(6)的输出端相连,待测液晶光栅器件(4)夹持在所述样品台(5)上;所述的连续探测激光器(1)输出的激光经所述分束镜(2)后分成反射光束和透射光束,所述的反射光束由所述第一光束质量分析仪(3)接收,所述的透射光束垂直辐照在所述待测液晶光栅器件(4)表面,经所述待测液晶光栅器件(4)透射后,由所述第二光束质量分析仪(6)接收;所述的泵浦激光器(7)输出的激光以5-10°的入射角辐照在所述待测液晶光栅器件(4)上,经所述待测液晶光栅器件(4)透过后的激光束由所述吸收池(8)接收;所述连续探测激光器(1)输出的激光辐照在所述待测液晶光栅器件(4)表面的区域与所述泵浦激光器(7)输出的激光辐照在所述待测液晶光栅器件(4)表面的区域重合;对所述光束质量分析仪测得光束功率密度的空间图进行像素强度提取,定义像素强度为激光功率密度,其特征在于,具体包含以下步骤:
①泵浦激光器和连续探测激光同时辐照样品,第一光束质量分析仪(3)和第二光束质量分析仪(6)同步连续采集探测激光的空间分布图;
②对所述第一光束质量分析仪(3)在t时刻测得光束功率密度的空间分布图进行像素强度提取,获取t时刻所述第一光束质量分析仪(3)测得在(x,y)位置的功率密度E(x,y),计算由所述第一光束质量分析仪(3)接收的总功率P1,公式如下:
③对所述第二光束质量分析仪(6)在t时刻测得光束功率密度的空间分布图进行像素强度提取,获取t时刻所述第二光束质量分析仪(6)测得在(x,y)位置的功率密度E(x,y),计算由所述第二光束质量分析仪(6)接收的总功率P2,公式如下:
④计算待测液晶光栅器件(4)在泵浦激光辐照t时刻的衍射效率η,公式如下:
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