[发明专利]一种带有吸波隆脊的微波暗室

说明书

本发明属于微波射频与测试测量技术领域，涉及一种带有吸波隆脊的微波暗室。以面对发射点方向为基准，在微波暗室地面、顶部和/或侧墙上铺设隆脊，根据以下方式确定隆脊的铺设位置：首先确定静区的位置，以吸波隆基铺设面作为对称面，确定发射点的镜像点，发射点的镜像点与静区两边缘连线，两条连线与吸波隆基铺设面形成交点，两个交点的连线即为吸波隆基铺设区域。该技术提供了一种改善微波暗室电磁环境的新结构设计。

技术领域

本发明属于微波射频与测试测量技术领域，涉及一种带有吸波隆脊的微波暗室。

背景技术

微波暗室的两个基本功能就是在室内形成无反射区和隔离外部电磁波的干扰，是模拟电磁波传播的一个开放的空间环境，经过多年的实验和发展，暗室已经可以很好为各种近远场测试系统提供优良的测试环境，也越来越受到科学界的重视。

目前微波暗室多为矩形暗室，矩形微波暗室性能的优略与其几何形状、大小、静区要求、所使用吸波材料等综合设计以期其微波性能指标，而对于低频频段，由于电磁波波长较长，工程应用3λ的吸波材料较难实现。

发明内容

本发明的目的：提供一种改善微波暗室电磁环境的新结构设计。

本发明的技术方案：一种带有吸波隆脊的微波暗室，以面对发射点方向为基准，在微波暗室地面、顶部和/或侧墙上铺设隆脊，根据以下方式确定隆脊的铺设位置：首先确定静区的位置，以吸波隆基铺设面作为对称面，确定发射点的镜像点，发射点的镜像点与静区两边缘连线，两条连线与吸波隆基铺设面形成交点，两个交点的连线即为吸波隆基铺设区域。以此确定铺设位置为一次主反射信号最强区域的反射，保证最大化的改善一次主反射信号。

优选地，隆脊的折角角度为吸波隆脊微波入射线与吸波隆脊铺设面法线形成的夹角的一半。隆脊的折角角度保证一次主反射信号全部反射到吸波隆脊铺设面对立面形成电磁波的二次吸收。

优选地，所述吸波隆基的横截面为三角形。吸波隆基的三角形构造可以方便的在其上铺贴吸波材料，同时三角形结构稳定性最优。

优选地，侧墙上吸波隆脊的长度等于微波暗室高度，顶部及地面上吸波隆脊的长度等于微波暗室的宽度。该长度可以全部包络一次主反射信号，去除因长度不够导致改善效果不佳影响。

附图说明

图1为微波暗室示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明做进一步说明：

1)假定目前微波暗室的尺寸为35m×18m×18m，那以该微波暗室的尺寸建立直角坐标系如附图所示。

2)以发射点所处位置作为前墙，以发射点对面即静区所处位置作为后墙，以发射点顺航向看左手位置作为侧墙1，右手位置作为侧墙2。

3)设定微波暗室的侧墙2与前墙交点作为坐标原点O点，侧墙2作为需铺设吸波隆基的面作为X轴，发射天线所处的墙面作为Y轴，Z轴为高度方向，此计算过程暂不考虑Z轴坐标。

4)静区就是满足远区条件的测试区，静区的直径d必须不小于待测天线的直径一般可以用公式来表示，设定静区尺寸为5m×5m。

5)为保证测试产品与后墙面不干涉，暂设定静区中心距离后墙面8m，同时静区中心位于微波暗室高度和宽度的中心位置，通过计算中心点C点坐标为(27，9)。

4)发射点A点位于微波暗室的宽度中心点位置，即坐标为(0，9)。

5)镜像点B点以X轴作为轴线，A点的对称点，坐标为(0，-9)。

6)静区上边缘D点坐标为(24.5，11.5)。