[发明专利]一种用于SCID遗传病筛查的引物、检测试剂盒及检测方法

说明书

本发明涉及用于SCID遗传病筛查的引物、检测试剂盒及检测方法，试剂盒包括DNA提取液，TREC基因扩增的上、下游引物和探针，内参Cα基因扩增的上、下游引物和探针，外控Cα基因扩增的上、下游引物和探针，PCR MIX反应液；TREC基因扩增的上、下游引物序列如SEQ ID NO.1和SEQ ID NO.2所示，TREC基因探针序列如SEQ ID NO.3所示；内参Cα基因扩增的上、下游引物序列如SEQ ID NO.4和SEQ ID NO.5所示，内参Cα基因探针序列如SEQ ID NO.6所示；外控Cα基因扩增的上、下游引物序列如SEQ ID NO.4和SEQ ID NO.5所示，外控Cα基因探针序列如SEQ ID NO.7所示。该方法基于荧光定量PCR技术，采用chelex100法处理干血片直接扩增的方法定性检测T细胞受体删除环，建立快速、高效、敏感的SCID筛查技术体系。该方法操作方便，成本低廉，易于推广。

技术领域

本发明属于新生儿遗传病基因筛查领域，具体涉及一种用于SCID遗传病筛查的引物、检测试剂盒及检测方法。

背景技术

重症联合免疫缺陷病(severe combined immunodeficiency disease，SCID)是由多种遗传因素引起的T淋巴细胞、B淋巴细胞、NK细胞数量缺乏和/或功能障碍，导致体液免疫、细胞免疫同时存在严重缺陷，这种原发性免疫缺陷常被定义为初始T细胞缺乏。SCID的发生率约为1/10万活产新生儿，但因为SCID患儿常在明确诊断前死亡，该数字可能被严重低估，不经治疗，SCID的病死率为100％。95％患儿为男孩，多呈性连锁隐性遗传，偶有常染色体隐性遗传及散发病例。临床表现为患儿在出生最初数月发生一次或反复感染，严重威胁患儿生命和生活质量。

Chan和Puck在2005年首先报道了采用定量PCR方法检测T细胞受体切除环(T－cell receptor excisioncircles,TRECs)。TREC是在胸腺发育成熟过程中，编码T细胞受体的基因进行重组，重组过程中生成了小片段的游离环状DNA。T细胞分裂过程中TRECs不复制，因此可作为判断胸腺输出初始T淋巴细胞功能的可靠指标。若TRECs减少或缺失，则高度怀疑SCID，进一步行流式细胞及基因诊断确诊。

SCID常用的治疗方法为造血干细胞移植，基因治疗在某些类型SCID(如ADA基因突变导致的腺苷脱氨酶缺陷)中也有成功应用。研究显示，在3.5月龄前接受HSCT生存率为94％，而3.5月龄发生慢性腹泻、严重感染后进行HSCT生存率仅为69％。如果出生时未能及时筛查出SCID，患儿将面临反复感染，生存质量下降；另外，感染后的干细胞移植需要调整用药，降低移植成功率，说明早期诊断、早期治疗可以明显提高生存率，降低病死率。然而，由于SCID患者在发生感染前缺少临床症状，如何在感染前早期识别成为关键。

目前，美国等发达国家和我国台湾地区已经开展了新生儿SCID筛查工作，美国疾病控制与预防中心也将此项目纳入了新生儿疾病筛查室间质量评价体系，但是国内SCID新生儿筛查和相应基因诊断检测工作还在初步阶段。现国内尚未有开展新生儿人群大样本SCID筛查的报道，也未建立明确的新生儿SCID筛查技术体系，因此，建立快速、高效、敏感的SCID筛查技术体系具有非常重要的意义。

发明内容

针对现有技术中的技术空白，本发明的目的是提供一种用于SCID遗传病筛查的引物、检测试剂盒及检测方法，基于荧光定量PCR技术，采用chelex100法处理干血片直接扩增的方法定性检测T细胞受体删除环，建立快速、高效、敏感的SCID筛查技术体系。该方法操作方便，成本低廉，易于推广。

本发明是通过以下技术方案实现的：