[发明专利]一种测距方法及装置

说明书

本发明提供一种测距方法及装置，其中，该测距方法包括：获取包括第一待测地点和第二待测地点的测量图像，并通过预设的计算机视觉算法根据测量图像进行计算，得到图像坐标系；根据图像坐标系和预设的测量参数进行计算得到第一方位角以及第二方位角；根据第一方位角和第二方位角调整激光测距仪，并通过激光测距仪获取到第一参考距离以及第二参考距离；根据第一方位角、第二方位角、第一参考距离以及第二参考距离计算得到第一待测地点和第二待测地点之间的距离值。本发明所描述的测距方法能够避免大量的人工操作，减少测距的步骤，从而提高测距的效率；同时，可以保证目标点在采集范围内，避免再次使用摄像装置进行拍摄的问题。

技术领域

本发明涉及工程领域，具体而言，涉及一种测距方法及装置。

背景技术

目前，随着各种工程的不断增加，需要测距的地方也变得越来越多，但是，现有的测距方法通常是使用摄像装置和激光测距仪对待测量的位置逐一进行测量，并根据测量到的结果计算待测量的位置之间的距离。

在实践中发现，上述测距过程往往需要大量的人工操作，并且逐步测量的步骤十分繁琐；同时，如果在对目标点的拍摄时存在拍摄偏差，则会使变焦后的图像中没有目标点，从而导致需要再次使用摄像装置进行拍摄。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提供了一种测距方法及装置，能够避免大量的人工操作，减少测距的步骤，从而提高测距的效率；同时，可以保证目标点在采集范围内，避免再次使用摄像装置进行拍摄的问题。

为了实现上述目的，本发明采用如下的技术方案：

第一方面，本发明提供了一种测距方法，包括：

获取包括第一待测地点和第二待测地点的测量图像，并通过预设的计算机视觉算法根据所述测量图像进行计算，得到图像坐标系；

根据所述图像坐标系和预设的测量参数进行计算，得到与所述第一待测地点对应的第一方位角以及所述与第二待测地点对应的第二方位角；

根据所述第一方位角和所述第二方位角调整激光测距仪，并通过所述激光测距仪获取到与所述第一待测地点对应的第一参考距离以及与所述第二待测地点对应的第二参考距离；

根据所述第一方位角、所述第二方位角、所述第一参考距离以及所述第二参考距离计算得到所述第一待测地点和所述第二待测地点之间的距离值。

作为一种可选的实施方式，所述图像坐标系与实际物理坐标系具有预设的对应关系，其中，所述根据所述图像坐标系和预设的测量参数进行计算得到与所述第一待测地点对应的第一方位角以及所述与第二待测地点对应的第二方位角的步骤包括：

根据所述图像坐标系获取与所述第一待测地点对应的第一物理坐标以及所述第二待测地点对应的第二物理坐标；

根据所述第一物理坐标以及所述第二物理坐标计算得到与所述第一物理坐标对应的第一坐标角和与所述第二物理坐标对应的第二坐标角；所述第一坐标角和所述第二坐标角用于在所述图像坐标系中表示所述第一待测地点和所述第二待测地点的角度位置；

根据预设的测量参数、所述对应关系、所述第一坐标角以及所述第二坐标角计算得到与所述第一坐标角对应的第一方位角以及与所述第二坐标角对应的第二方位角；所述第一方位角和所述第二方位角用于在目前实际状态下表示所述第一待测地点和所述第二待测地点与观测地点之间的角度关系。

作为一种可选的实施方式，所述根据所述图像坐标系获取与所述第一待测地点对应的第一物理坐标以及所述第二待测地点对应的第二物理坐标的步骤包括：

根据所述图像坐标系获取与所述第一待测地点对应的第一图像坐标以及所述第二待测地点对应的第二图像坐标；

根据所述对应关系、所述第一图像坐标以及所述第二图像坐标计算得到第一物理坐标和第二物理坐标。