[发明专利]基于测井曲线的优势通道发育层段识别方法及装置在审
申请号: | 201811508998.0 | 申请日: | 2018-12-11 |
公开(公告)号: | CN111305831A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 孙亮;李保柱;李勇;焦玉卫;李伟涛 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00;E21B47/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 王涛 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 测井 曲线 优势 通道 发育 识别 方法 装置 | ||
本发明公开了一种基于测井曲线的优势通道发育层段识别方法及装置,该方法包括:获取待识别油井的测井曲线;根据所述测井曲线计算出所述待识别油井各层段的地层真电阻率变异系数;根据所述地层真电阻率变异系数计算出所述待识别油井各层段的识别参数;根据所述识别参数以及预设的各层段对应的优势通道识别参数取值范围识别出所述待识别油井中的优势通道发育层段。本发明解决了现有技术中缺乏基于测井资料的定量化的对测井的优势通道进行识别的方法的技术问题。
技术领域
本发明涉及油藏的优势通道识别方法,具体而言,涉及一种基于测井曲线的优势通道发育层段识别方法及装置。
背景技术
砂砾岩油藏储层本身具有非均质性,在长期水驱冲刷下形成优势通道,会使油藏注入水低效、无效循环,并且使中高含水期油田增产措施实现困难。优势通道形成后,常规测井曲线或生产测井资料会出现动态响应特征。据此,国内外学者在应用测井资料识别优势通道方面进行了深入的研究,包括:产吸剖面测井、示踪剂监测、时间推移测井、五参数组合测井和厚油层细分解释等开发测井方法,但这些方法需要大量现场测试资料,获取周期长、成本高、影响油田生产,而且只能对一个时间点进行识别,不能预测优势通道后期发育趋势;也有学者应用常规测井曲线资料结合费歇判别法、层次分析法或模糊综合评判等数学方法进行水窜识别,但这些方法一方面只能定性识别,缺乏基于测井资料的定量化指标,另一方面其识别指标的界限和权重较难确定,人为因素影响较大,而且都是在未确定属性参数之前进行分级的,未进行属性参数确定后的分类研究,也未建立考虑参数的识别标准和方法。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种基于测井曲线的优势通道发育层段识别方法,以解决现有技术中缺乏基于测井资料的定量化的对测井的优势通道进行识别的方法的技术问题。
为了实现上述目的,根据本发明的一个方面,提供了一种基于测井曲线的优势通道发育层段识别方法,该方法包括:
获取待识别油井的测井曲线;
根据所述测井曲线计算出所述待识别油井各层段的地层真电阻率变异系数;
根据所述地层真电阻率变异系数计算出所述待识别油井各层段的识别参数;
根据所述识别参数以及预设的各层段对应的优势通道识别参数取值范围识别出所述待识别油井中的优势通道发育层段。
进一步的,该方法还包括:根据所述测井曲线计算出所述待识别油井各层段的渗透率几何平均值。
进一步的,所述根据所述识别参数以及预设的各层段对应的优势通道识别参数取值范围识别出所述待识别油井中的优势通道发育层段,包括:
通过判断所述待识别油井各层段的渗透率几何平均值是否满足预设值以及判断所述待识别油井各层段的识别参数是否满足预设的各层段对应的优势通道识别参数取值范围,识别出所述待识别油井中的优势通道发育层段。
进一步的,该方法还包括:获取所述待识别油井各层段的砂体厚度。
进一步的,所述根据所述识别参数以及预设的各层段对应的优势通道识别参数取值范围识别出所述待识别油井中的优势通道发育层段,包括:
通过判断所述待识别油井各层段的砂体厚度和渗透率几何平均值是否分别满足对应的预设值以及判断所述待识别油井各层段的识别参数是否满足预设的各层段对应的优势通道识别参数取值范围,识别出所述待识别油井中的优势通道发育层段。
为了实现上述目的,根据本发明的另一方面,还提供了一种基于测井曲线的优势通道发育层段识别装置,该装置包括:
测井曲线获取单元,用于获取待识别油井的测井曲线;
地层真电阻率变异系数计算单元,用于根据所述测井曲线计算出所述待识别油井各层段的地层真电阻率变异系数;
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