[发明专利]一种处理器的状态测试方法

权利要求书

1.一种处理器的状态测试方法，其特征在于，包括：

控制处理器将预设的检测数据写入存储设备；

控制所述处理器读取写入所述存储设备的所述检测数据；

判断读取的所述检测数据与预设的所述检测数据是否相同；

若是，则所述处理器的写功能与读功能正常；

否则所述处理器的所述写功能和/或所述读功能异常。

2.根据权利要求1所述的状态测试方法，其特征在于，所述控制处理器将预设的检测数据写入存储设备之前，该状态测试方法还包括：

若当前预设的检测数据为第一子检测数据，将所述检测数据设置为第二子检测数据；若当前预设的检测数据为第二子检测数据，将所述检测数据设置为第一子检测数据；

则所述若是，则所述处理器的写功能与读功能正常之后，该状态测试方法还包括：

间隔第一预设时段后返回步骤：

若当前预设的检测数据为第一子检测数据，将所述检测数据设置为第二子检测数据；若当前预设的检测数据为第二子检测数据，将所述检测数据设置为第一子检测数据。

3.根据权利要求2所述的状态测试方法，其特征在于，所述否则所述处理器的所述写功能和/或所述读功能异常之后，该状态测试方法还包括：

将异常次数加1；

判断所述异常次数是否大于预设次数；

若是，则进行报警；

否则间隔第二预设时段后返回步骤：

若当前预设的检测数据为第一子检测数据，将所述检测数据设置为第二子检测数据；若当前预设的检测数据为第二子检测数据，将所述检测数据设置为第一子检测数据；

所述若是，则所述处理器的写功能与读功能正常具体为：

若是，则所述处理器的写功能与读功能正常，并将所述异常次数清零。

4.根据权利要求3所述的状态测试方法，其特征在于，所述第二预设时段小于所述第一预设时段。

5.根据权利要求4所述的状态测试方法，其特征在于，所述第一预设时段为1小时。

6.根据权利要求1所述的状态测试方法，其特征在于，所述处理器为复杂可编程逻辑器件CPLD。

7.根据权利要求3所述的状态测试方法，其特征在于，所述预设次数为10次。

8.根据权利要求1至7任一项所述的状态测试方法，其特征在于，所述控制处理器将预设的检测数据写入存储设备具体为：

控制处理器将预设的检测数据写入存储设备的第一存储位置；

则所述控制处理器将预设的检测数据写入存储设备的第一存储位置之后，所述控制所述处理器读取写入所述存储设备的所述检测数据之前，该状态测试方法还包括：

控制所述处理器将写入所述第一存储位置的所述检测数据复制到所述存储设备的第二存储位置；

则所述控制所述处理器读取写入所述存储设备的所述检测数据具体为：

控制所述处理器读取写入所述第二存储位置的所述检测数据；

则所述若是，则所述处理器的写功能与读功能正常具体为：

若是，则所述处理器的写功能、操作功能与读功能正常；

所述否则所述处理器的所述写功能和/或所述读功能异常具体为：

否则所述处理器的所述写功能、所述操作功能以及所述读功能中的至少一者异常。

9.根据权利要求8所述的状态测试方法，其特征在于，所述控制所述处理器将写入所述第一存储位置的所述检测数据复制到所述存储设备的第二存储位置具体为：

响应于预设程序，所述处理器将写入所述第一存储位置的所述检测数据复制到所述存储设备的第二存储位置。

10.根据权利要求9所述的状态测试方法，其特征在于，所述第一存储位置为所述存储设备中的写寄存器，所述第二存储位置为所述存储设备中的读寄存器。