[发明专利]一种微电子电容在审
申请号: | 201811504358.2 | 申请日: | 2018-12-10 |
公开(公告)号: | CN109461713A | 公开(公告)日: | 2019-03-12 |
发明(设计)人: | 肖建辉;童红杰 | 申请(专利权)人: | 宁波爱芯微电子有限公司 |
主分类号: | H01L23/522 | 分类号: | H01L23/522 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人: | 冯子玲 |
地址: | 315800 浙江省宁波市北仑*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 绝缘层 第二金属层 第一金属层 微电子 掩膜版 半导体芯片 绝缘层结构 常规工艺 基本平行 芯片成本 栅格结构 匹配 替换 金属 保证 | ||
1.一种微电子电容,其特征在于,包括基本平行设置的第一金属层、第二金属层和绝缘层,所述第一金属层和所述第二金属层位于所述绝缘层的两侧,并和所述绝缘层结合,所述第一金属层和所述第二金属层相对于所述绝缘层结构对应。
2.如权利要求1所述的微电子电容,其特征在于,所述第一金属层和所述第二金属层结构相同。
3.如权利要求1或2所述的微电子电容,其特征在于,所述第一金属层和所述第二金属层分别与所述绝缘层刻蚀结合,所述第一金属层和所述第二金属层被规则化刻蚀。
4.如权利要求3所述的微电子电容,其特征在于,所述绝缘层包括一层或者多层绝缘子层,所述多层绝缘子层之间沉积结合,所述绝缘子层由氮化硅或者二氧化硅制成。
5.如权利要求3所述的微电子电容,其特征在于,所述第一金属层和所述第二金属层分别被刻蚀为栅格结构,所述栅格结构包括均匀分布的栅格。
6.如权利要求5所述的微电子电容,其特征在于,所述栅格结构的栅格之间设置绝缘体,所述绝缘体由氮化硅或者二氧化硅制成。
7.如权利要求6所述的微电子电容,其特征在于,所述第一金属层和所述第二金属层由铝或者铜制成。
8.一种电路,其特征在于,包括多个单元电路,至少部分的单元电路分别包括如权利要求1-7任一所述的微电子电容。
9.如权利要求8所述的电路,其特征在于,所述电路为传感器电路,存储器电路或者数模/模数转换电路,以及所述单元电路为采集单元电路,存储单元电路或者转换单元电路。
10.如权利要求9所述的电路,其中,所述传感器电路为指纹传感器电路、CMOS传感器电路、红外成像传感器电路;以及所述采集单元电路为像素采集单元电路或图像采集单元电路。
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