[发明专利]被测目标物表面缺陷判别方法及装置、计算机可读取介质

权利要求书

1.一种被测目标物表面缺陷判别方法，其特征在于，包括：

获取被测目标物表面的图像；

对所述图像进行预处理，得出所述被测目标物表面的缺陷区域；

对所述缺陷区域进行椭圆拟合，得出拟合后的所述缺陷区域的缺陷参数；

根据所述缺陷参数确定所述被测目标物表面缺陷的类型。

2.如权利要求1所述的被测目标物表面缺陷判别方法，其特征在于，所述对所述缺陷区域进行椭圆拟合，得出拟合后的所述缺陷区域的缺陷参数；具体包括：

确定所述缺陷区域的中心位置的坐标；

根据所述缺陷区域的中心位置的坐标和所述缺陷区域内各像素的坐标，采用空间矩的方法计算出各所述像素坐标的二阶矩；

根据各所述像素坐标的二阶矩计算出待拟合椭圆的长半轴和短半轴。

3.如权利要求2所述的被测目标物表面缺陷判别方法，其特征在于，所述确定所述缺陷区域的中心位置的坐标，具体包括：

根据所述缺陷区域内所有所述像素坐标的平均值确定所述缺陷区域的中心位置的坐标。

4.如权利要求2所述的被测目标物表面缺陷判别方法，其特征在于，所述根据所述缺陷区域的中心位置的坐标和所述缺陷区域内各像素的坐标，采用空间矩的方法计算出各所述像素坐标的二阶矩，具体包括：采用下列公式计算各所述像素坐标的二阶矩：

其中，M₂₀表示各所述像素的横坐标的方差，M₀₂表示各所述像素的纵坐标的方差，M₁₁表示各所述像素横纵坐标的协方差，r表示各所述像素的横坐标，c表示各所述像素的纵坐标，r₀表示所述缺陷区域的中心位置的横坐标，c₀表示所述缺陷区域的中心位置的纵坐标，N表示所述缺陷区域内所述像素的个数，R表示所述缺陷区域内的像素坐标。

5.如权利要求4所述的被测目标物表面缺陷判别方法，其特征在于，所述根据各所述像素坐标的二阶矩计算出待拟合椭圆的长半轴和短半轴，具体包括：

通过以下公式计算投影空间内椭圆的长轴和短轴：

根据投影空间椭圆的长轴和短轴，计算出所述待拟合椭圆的长半轴和短半轴：

其中，I_a表示所述投影空间椭圆的长轴，I_b表示所述投影空间椭圆的短轴，a_i表示所述待拟合椭圆的长半轴，b_i表示所述待拟合椭圆的短半轴。

6.一种被测目标物表面缺陷判别装置，其特征在于，包括：

图像获取模块，用于获取被测目标物表面的图像；

图像预处理模块，用于对所述图像进行预处理，得出所述被测目标物表面的缺陷区域；

缺陷参数计算模块，用于对所述缺陷区域进行椭圆拟合，得出拟合后的所述缺陷区域的缺陷参数；

缺陷类型确定模块，用于根据所述缺陷参数确定所述被测目标物表面缺陷的类型。

7.如权利要求6所述的被测目标物表面缺陷判别装置，其特征在于，所述缺陷参数计算模块具体包括用于：

坐标确定单元，用于确定所述缺陷区域的中心位置的坐标；

二阶矩计算单元，用于根据所述缺陷区域的中心位置的坐标和所述缺陷区域内各像素的坐标，采用空间矩的方法计算出各所述像素坐标的二阶矩；

椭圆参数计算单元，用于根据各所述像素坐标的二阶矩计算出待拟合椭圆的长半轴和短半轴。

8.如权利要求7所述的被测目标物表面缺陷判别装置，其特征在于，所述坐标确定单元具体用于：

根据所述缺陷区域内所有所述像素坐标的平均值确定所述缺陷区域的中心位置的坐标。