[发明专利]一种射线在闪烁晶体中的击中点定位方法及其系统有效
申请号: | 201811496270.0 | 申请日: | 2018-12-07 |
公开(公告)号: | CN109521459B | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 杨永峰;章先鸣;桑子儒;梁栋;刘新;郑海荣 | 申请(专利权)人: | 深圳先进技术研究院 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 吴乃壮 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 闪烁 晶体 中的 击中 定位 方法 及其 系统 | ||
1.一种射线在闪烁晶体中的击中点定位方法,应用于核技术成像系统,其特征在于,所述核技术成像系统包括多个探测器模块,每个所述探测器模块均包括闪烁晶体,所述射线在闪烁晶体中的击中点定位方法包括以下步骤:
依据每个所述探测器模块分别接收到的信号总幅度确定击中探测器模块;
依据所述击中探测器模块接收到的信号通过预设定的算法计算参考击中点的位置;
当所述参考击中点的位置位于所述击中探测器模块的内部区域时,将所述参考击中点的位置作为击中点的位置;
当所述参考击中点的位置位于所述击中探测器模块的边缘区域时,利用击中探测器模块以及每个从探测器模块各自产生的信号,通过预设定的算法对击中点重新定位。
2.如权利要求1所述的射线在闪烁晶体中的击中点定位方法,其特征在于,所述利用击中探测器模块以及每个从探测器模块各自产生的信号,通过预设定的算法对击中点重新定位的步骤包括:
依据所述参考击中点的位置,所有探测器模块的安装位置,每个探测器模块接收到的信号总幅度以及预设定的信号幅度阈值确定所述从探测器模块;
通过所述预设定的算法,用所述击中探测器模块以及所述从探测器模块各自产生的信号对击中点重新定位。
3.如权利要求2所述的射线在闪烁晶体中的击中点定位方法,其特征在于,所述依据所述参考击中点的位置,所有探测器模块的安装位置,每个探测器模块接收到的信号总幅度以及预设定的信号幅度阈值确定所述从探测器模块的步骤包括:
依据所述所有探测器模块的安装位置确定靠近所述参考击中点的位置的相邻探测器模块;
依次将所述相邻探测器模块中的每个探测器模块的信号总幅度与预设定的信号幅度阈值进行比较,将大于所述预设定的信号幅度阈值的探测器模块确定为从探测器模块。
4.如权利要求1所述的射线在闪烁晶体中的击中点定位方法,其特征在于,所述依据每个所述探测器模块分别接收到的信号总幅度确定击中探测器模块的步骤包括:
将每个所述探测器模块接收到的信号总幅度与预设定的幅度范围进行比较,并将信号总幅度落在所述预设定的幅度范围内的探测器模块作为击中探测器。
5.如权利要求1所述的射线在闪烁晶体中的击中点定位方法,其特征在于,所述边缘区域指在水平面内,闪烁晶体中距离其边界小于阈值的区域,所述水平面与光探测器的法线垂直,所述内部区域为所述闪烁晶体中除所述边缘区域以外的区域。
6.如权利要求1所述的射线在闪烁晶体中的击中点定位方法,其特征在于,所述探测器模块还包括光探测器,所述光探测器的读出单元数目大于或等于1个,且每个读出单元均可独立输出信号。
7.一种用于确定击中点位置的电子系统,应用于核技术成像系统,其特征在于,所述核技术成像系统包括多个探测器模块,每个所述探测器模块均包括闪烁晶体,所述用于确定击中点位置的电子系统包括:
击中探测器模块确定单元,用于依据每个所述探测器模块分别接收到的信号总幅度确定击中探测器模块;
位置计算单元,用于依据所述击中探测器模块接收到的信号通过预设定的算法计算参考击中点的位置;
击中点确定单元,用于当所述参考击中点的位置位于所述击中探测器模块的内部区域时,将所述参考击中点的位置作为击中点的位置;
击中点确定单元还用于当所述参考击中点的位置位于所述击中探测器模块的边缘区域时,利用击中探测器模块以及每个从探测器模块各自产生的信号,通过预设定的算法对击中点重新定位。
8.如权利要求7所述的用于确定击中点位置的电子系统,其特征在于,所述击中点确定单元包括:
从探测器模块确定模块,用于当所述参考击中点的位置在预设定的边缘位置时,依据所述参考击中点的位置,所有探测器模块的安装位置,每个探测器模块接收到的信号总幅度以及预设定的信号幅度阈值确定所述从探测器模块;
击中点确定模块,用于通过所述预设定的算法,利用所述击中探测器模块以及每个所述从探测器模块各自产生的信号,对击中点重新定位。
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