[发明专利]基于m面BeMgZnO薄膜的自发极化增强型光电探测器及其制备方法有效
申请号: | 201811487852.2 | 申请日: | 2018-12-06 |
公开(公告)号: | CN109616535B | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 何云斌;杨蓉慧子;黎明锴;卢寅梅;常钢;李派;陈俊年;张清风 | 申请(专利权)人: | 湖北大学;武汉睿联智创光电有限公司 |
主分类号: | H01L31/0392 | 分类号: | H01L31/0392;H01L31/0296;H01L31/09;H01L31/18 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 杨采良 |
地址: | 430062 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 bemgzno 薄膜 自发 极化 增强 光电 探测器 及其 制备 方法 | ||
1.基于m面BeMgZnO薄膜的自发极化增强型光电探测器,其特征在于:所述探测器从下至上依次包括m面蓝宝石衬底、m面取向的BeMgZnO四元合金薄膜层、一对平行金属电极,其中:所述平行金属电极垂直于所述BeMgZnO四元合金薄膜的c轴方向。
2.根据权利要求1所述的基于m面BeMgZnO薄膜的自发极化增强型光电探测器,其特征在于:所述BeMgZnO四元合金薄膜层的厚度为200~300nm。
3.根据权利要求1所述的基于m面BeMgZnO薄膜的自发极化增强型光电探测器,其特征在于:所述平行金属电极的厚度为50nm~100nm。
4.根据权利要求1所述的基于m面BeMgZnO薄膜的自发极化增强型光电探测器,其特征在于:所述平行金属电极的间距为10~100μm。
5.根据权利要求1所述的基于m面BeMgZnO薄膜的自发极化增强型光电探测器,其特征在于:所述平行金属电极材料为Au、Al或Ag中的任一种。
6.权利要求1~5任一项所述的基于m面BeMgZnO薄膜的自发极化增强型光电探测器的制备方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:
(1)以m面蓝宝石作为薄膜生长的衬底,利用清洗液对所述衬底进行超声清洗后用氮气吹干,立即置于脉冲激光沉积系统的真空腔内,开启真空泵,使真空度为4×10-4~6×10-4Pa;
(2)采用脉冲激光烧蚀沉积方法,利用BeMgZnO陶瓷作为靶材,控制衬底温度为600~800℃,脉冲激光能量为300~400mJ/Pulse,薄膜沉积氧压为1~3Pa,在洁净干燥的m面蓝宝石衬底表面沉积m面BeMgZnO外延薄膜;
(3)确定步骤(2)制得的m面BeMgZnO四元合金薄膜的c轴方向,做好标号;利用真空蒸镀仪,通过热蒸发的方法在步骤(2)得到的BeMgZnO薄膜表面蒸镀一对平行金属电极,其中:所述平行金属电极与m面BeMgZnO薄膜c轴方向垂直。
7.根据权利要求6所述的基于m面BeMgZnO薄膜的自发极化增强型光电探测器的制备方法,其特征在于:步骤(2)中所述沉积时间为30~90min。
8.根据权利要求6所述的基于m面BeMgZnO薄膜的自发极化增强型光电探测器的制备方法,其特征在于:步骤(2)中所述BeMgZnO陶瓷靶材是采用固相烧结法制得,具体方法如下:按配比将BeO、ZnO、MgO粉体原料混合均匀,然后置于真空管式炉烧制2h后制得,其中:烧结温度为1250℃。
9.根据权利要求8所述的基于m面BeMgZnO薄膜的自发极化增强型光电探测器的制备方法,其特征在于:所述粉体原料BeO、MgO、ZnO的摩尔比为5:10:85。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的