[发明专利]波形显示装置、波形参数统计方法、终端设备及存储介质

说明书

本发明适用于数据测量与处理技术领域，提供了波形显示装置、波形参数统计方法、终端设备及存储介质，包括：第一处理单元和第二处理单元，第一处理单元包括参数测量模块和波形搜索模块，第二处理单元包括周期测量统计模块和波形显示模块，波形搜索模块搜索并保存目标帧波形的周期信息，周期测量统计模块根据周期统计指令，获取目标帧波形的各个单位周期波形的周期信息；参数测量模块用于测量各个单位周期波形的波形参数得到参数测量结果；周期测量统计模块统计各个单位周期波形的参数测量结果生成统计列表；波形显示模块用于显示统计列表。本发明提高运算速度和工作效率，可以准确、快速地反映被测信号的本质，为用户提供更准确可靠的测量结果。

技术领域

本发明属于数据测量与处理技术领域，尤其涉及波形显示装置、波形参数统计方法、终端设备及存储介质。

背景技术

随着电子设备的日益复杂化，设计工程团队需要更好的工具来记录、分析和可视化波形数据及测量统计数据。大部分行业测量测试仪器都提供波形电压参数/幅度参数和时间参数的自动测量功能，但是该测量功能通常局限于针对仪器内存中捕获的单个完整波形周期。同一次采集中的后续波形周期将显示在屏幕上，但是却被测量结果丢弃。测量统计数据(当前值、最大值、最小值、样本数、平均值和标准差)必须通过多次采集才能进行统计，并且不规则/错误的波形周期参数测量结果极易缺失或忽略。此外，现有技术的测量测试仪器运算速度慢，给CPU带来巨大开销，造成仪器运行迟滞，响应迟钝，对全存储深度波形进行参数周期测量统计等待结果时间太长。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了波形显示装置、波形参数统计方法、终端设备及存储介质，以解决现有技术中测量仪器不能提供每个周期详细波形信号特征结果且运算速度慢的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种波形显示装置，包括第一处理单元和第二处理单元，所述第一处理单元包括参数测量模块和波形搜索模块，所述第二处理单元包括周期测量统计模块和波形显示模块，

其中，所述波形搜索模块与周期测量统计模块连接，用于搜索目标帧波形的周期信息，所述周期信息包括目标帧波形的各个单位周期波形的波形位置信息和数据长度信息；

所述周期测量统计模块用于获取基于所述目标帧波形触发的周期统计指令，并根据所述周期统计指令，从所述波形搜索模块中获取所述目标帧波形的各个单位周期波形的周期信息；

所述参数测量模块与所述周期测量统计模块连接，用于获取所述周期信息和所述目标帧波形的波形数据后，根据所述周期信息测量各个所述单位周期波形的波形参数，得到各个所述单位周期波形的参数测量结果；

所述周期测量统计模块还用于从所述参数测量模块中获取各个所述单位周期波形的参数测量结果，并根据所述参数测量结果生成统计列表；

所述波形显示模块与所述周期测量统计模块连接，用于显示所述统计列表。

本发明实施例的第二方面提供了一种波形参数统计方法，应用于波形显示装置，所述波形显示装置包括第一处理器和第二处理器，所述波形参数统计方法包括：

所述第二处理器获取基于目标帧波形的周期统计指令，所述目标帧波形包含至少一个单位周期波形；

所述第二处理器根据所述周期统计指令，从所述第一处理器中获取所述目标帧数据的多个所述单位周期波形的波形参数的参数测量结果；

所述第二处理器根据所述参数测量结果生成统计列表并显示。

本发明实施例的第三方面提供了一种终端设备，包括存储器、第一处理器、第二处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述第一处理器和所述第二处理器执行所述计算机程序时实现如第二方面提供的波形参数统计方法的步骤。