[发明专利]芯片检测方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种芯片检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待检测芯片的芯片图像；

根据所述芯片图像生成对应的图像矩；

根据所述图像矩生成对应芯片图像的识别算子；

若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子匹配，则生成检测合格结果；

若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子不匹配，则生成检测不合格结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待检测芯片的芯片图像，包括：

接收相机拍摄后发送的初始图像；

对所述初始图像进行轮廓提取，若提取成功，则将所述初始图像作为待检测芯片的芯片图像。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述图像矩包括几何矩和几何中心距；所述根据所述芯片图像生成对应的图像矩，包括：

对所述芯片图像进行阈值分割，得到二值化图像的离散函数；

对所述二值化图像的离散函数进行黎曼积分，得到对应芯片图像的几何矩和几何中心距。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述图像矩生成对应芯片图像的识别算子，包括：

根据所述几何中心距计算得到HU矩；

根据所述几何中心距对所述HU矩进行优化，得到改进HU矩；

根据所述几何矩计算得到离心率；

将所述改进HU矩和所述离心率组成特征向量，得到所述芯片图像的识别算子。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述几何中心距对所述HU矩进行优化，得到改进HU矩，包括：

通过比值计算去掉所述HU矩中的0阶的几何中心距，得到所述改进HU矩。

6.根据权利要求1至4任意一项所述的方法，其特征在于，所述若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子匹配，则生成检测合格结果之后，还包括：

对合格的芯片图像进行矩形拟合，得到拟合矩形的四个交点坐标；

根据所述交点坐标计算得到所述拟合矩形的中心坐标和偏转角度。

7.一种芯片检测装置，其特征在于，所述装置包括：

图像获取模块，用于获取待检测芯片的芯片图像；

图像矩计算模块，用于根据所述芯片图像生成对应的图像矩；

识别算子计算模块，用于根据所述图像矩生成对应芯片图像的识别算子；

第一结果生成模块，用于在所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子匹配时，生成检测合格结果；

第二结果生成模块，用于在所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子不匹配时，生成检测不合格结果。

8.根据权利要求7所述的芯片检测装置，其特征在于，还包括定位模块，用于对合格的芯片图像进行矩形拟合，得到拟合矩形的四个交点坐标；根据所述交点坐标计算得到所述拟合矩形的中心坐标和偏转角度。

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。