[发明专利]一种适用于边界扫描测试的通用电路板

说明书

本发明涉及一种适用于边界扫描测试的通用电路板,作为边界扫描仿真器的JTAG接口与多个不同针数JTAG接口和多个电平转换芯片形成并联结构，并连接的多个电平转换电路，实现对复杂电路板进行边界扫描测试时，经过电平转换、驱动、跳线等方式实现链路灵活配置，同时解决不同芯片之间JTAG链路的兼容问题，以及解决待测电路板接口信号无法进行测试的问题。

技术领域

本发明属于集成电路测试领域，涉及一种适用于边界扫描测试的通用电路板,解决在电路板边界扫描测试时，不同电平、不同针脚JTAG接口之间配置的问题。

背景技术

随着电子技术的飞速发展以及PCB生产工艺水平的不断提高，数字电路集成度越来越高、尺寸越来越小，尤其是表面帖装技术SMT(Surface Mounted Technology)的出现，使传统的测试技术即对系统内部节点访问的测试方法已经无法实施，带来了前所未有的测试难题。传统的针床测试，通过探头与测试点接触获取测试点信息的方法，不仅费用高、耗时长，而且已经很难满足当前的测试需求。

为解决该问题，JTAG组织和IEEE组织共同推出了一种标准的边界扫描结构及其测试接口，即IEEE1149.1边界扫描标准。其主要思想是：通过在芯片管脚和芯片内部逻辑电路之间增加边界扫描单元(BSC)，实现对芯片管脚状态的串行设定和读取，从而提供芯片级、板级、系统级的标准测试框架。

发明内容

要解决的技术问题

为了避免现有技术的不足之处，本发明提出一种适用于边界扫描测试的通用电路板,解决在电路板边界扫描测试时，不同电平、不同针脚JTAG接口之间配置的问题。

技术方案

一种适用于边界扫描测试的通用电路板，其特征在于包括作为边界扫描仿真器的JTAG接口、多个不同针数JTAG接口和多个电平转换芯片；相同针脚的JTAG接口的TCK信号端、TMS信号端和TRST信号端形成并联结构，上一级的TDO信号端通过匹配电阻和跳线孔与下一级的TDI信号端连接；边界扫描仿真器为输入接口，输入前端有跳线孔，输出端的TCK信号端通过4.7K电阻连接GND，并与每个并联结构的TCK信号端并联；输出端的TMS信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TMS信号端并联；输出端的TDI信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TDI信号端通过跳线孔并联；输出端的TRST信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TRST信号端并联；多个电平转换芯片成对设置，将末端JTAG接口的TMS信号端、TCK信号端、TDO信号端和TRST信号端与其中一个电平转换芯片输入端连接，其中TDO信号端与电平转换芯片之间设有跳线孔，电平转换芯片的输出连接JTAG接口的输入端的TMS信号端、TCK信号端、TDI信号端和TRST信号端，该JTAG接口的TDO信号端连接另一个电平转换芯片，另一个电平转换芯片输出端设有跳线孔；所述电平转换芯片后连接的JTAG接口与芯片之前的JTAG接口针数相同；所述成对设置电平转换芯片为：两个电压之间的相互转换。

在边界扫描仿真器的JTAG接口的前端设有信号驱动芯片。

在边界扫描仿真器的JTAG接口的输出端设有信号驱动芯片。

所述边界扫描仿真器的JTAG接口采用10针2.54间距的JTAG接口。

有益效果

本发明提出的一种适用于边界扫描测试的通用电路板,通过选取电路板常用的JTAG接口，对复杂电路板进行边界扫描测试时，经过电平转换、驱动、跳线等方式实现链路灵活配置，同时解决不同芯片之间JTAG链路的兼容问题，以及解决待测电路板接口信号无法进行测试的问题。

本项发明的优点在于：

1、链路配置灵活；

2、可配置不同电平的JTAG接口；