[发明专利]一种基于多尺度高斯函数的柑橘表面缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201811471274.3 申请日: 2018-12-04
公开(公告)号: CN109682821B 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 吕强;张明;李鹏;郑永强;易时来;谢让金;马岩岩 申请(专利权)人: 西南大学
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230 代理人: 包晓静
地址: 400715*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 尺度 函数 柑橘 表面 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于多尺度高斯函数的柑橘表面缺陷检测方法,其特征在于,所述检测方法利用柑橘图像HSI颜色空间模型的I分量图构建二值掩模模板Imask,掩模模板Imask与I分量图进行点乘运算后得到去除背景的I分量图像F(x,y);通过构建多尺度高斯函数滤波器G(x,y),将G(x,y)与F(x,y)做卷积运算即可得到去除背景的I分量表面光照分量图I(x,y);将F(x,y)与I(x,y)做点除运算,得到去除背景的I分量表面均一化亮度图像f(x,y),对f(x,y)采用单阈值法即可实现柑橘表面缺陷检测;

所述检测方法的步骤为:

(1)图像获取;

(2)背景去除;

(3)构建多尺度高斯函数滤波器;

(4)光照分量获取;

(5)亮度均一化;

(6)缺陷提取;

所述图像获取方法为:以黑色板纸为背景,将柑橘放在样本台上,拍摄柑橘RGB彩色图像;

所述背景去除方法为:基于HSI颜色空间模型,根据I分量灰度直方图,采用双峰法选取阈值T=75对I分量图像二值化形成二值掩模模板Imask,即将柑橘区域置为1,其余区域置为0;利用

公式:

F(x,y)=I.*Imask

I分量图与二值掩模模板Imask通过点乘运算得到去除背景后的I分量图像F(x,y)。

2.如权利要求1所述基于多尺度高斯函数的柑橘表面缺陷检测方法,其特征在于,所述构建多尺度高斯函数滤波器方法为:利用公式:

可得到多尺度高斯函数滤波器G(x,y),式中,变量μ是归一化常数,λ是尺度因子。

3.如权利要求1所述基于多尺度高斯函数的柑橘表面缺陷检测方法,其特征在于,所述光照分量获取方法为:利用构建的多尺度高斯函数滤波器G(x,y)与去除背景后的I分量图像F(x,y)做卷积运算,即可得到去除背景的I分量表面光照分量图I(x,y),公式为

4.如权利要求1所述基于多尺度高斯函数的柑橘表面缺陷检测方法,其特征在于,所述亮度均一化方法为:利用公式:

对去除背景后的I分量图像F(x,y)表面亮度进行均一化校正。

5.如权利要求1所述基于多尺度高斯函数的柑橘表面缺陷检测方法,其特征在于,所述缺陷提取方法为:基于亮度均一化校正后的图像f(x,y),设定一个全局阈值即可对柑橘表面缺陷进行提取。

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