[发明专利]故障电流保护开关或差动电流保护开关

说明书

本发明涉及一种故障电流保护开关或差动电流保护开关，其中，测试键(16，16′)布置在手柄(14)的偏转区内，借助所述手柄可将所述保护开关接通和断开。所述测试键的布置方式是，当所述手柄(14)处于其断开位置时，测试键对于操作人员而言至少部分被所述手柄(14)遮住，其中，所述测试键不具有可操纵性。通过这种紧凑结构可在所述故障电流保护开关(10)的操作区(12)上获得用于安置标签的空间。

技术领域

本发明涉及一种故障电流保护开关或差动电流保护开关，其具有一个手柄和一个测试键，所述手柄可在一接通位置和一断开位置之间发生偏转，以便将所述开关接通和断开，所述测试键可从所述测试键的断开位置被向下按压至接通位置，当所述测试键处于其接通位置时，测试触点闭合，从而接通测试电流。

背景技术

测试电流用于测试设备功能。在此情况下，测试电流取代真正的故障电流。

相关规范(例如有关规定爬电距离及电气间隙的规范)所规定的用于测试键自身和与之相连元件的安装空间极其有限。由操作人员操纵的测试键须布置在故障电流保护开关(又称FI保护开关)或差动电流保护开关(又称DI保护开关)的操作区内。在占用空间为一水平节距的标准设备中，操作区的面积为45mm×18mm。在这个操作区内，除测试键外还须布置手柄，此外还应为标签的安置保留相应空间。标签的作用是为操作人员提供故障电流保护开关或差动电流保护开关的特性数据。

为能给标签留下尽可能大的空间，人们可能倾向于将测试键靠近手柄布置。但这样就有可能在操纵手柄时，因疏忽而将测试键按下。应避免这类误操作。

发明内容

本发明的目的是对开篇所述类型的故障电流保护开关或差动电流保护开关进行改进，使得操作区内的空间尽可能得到最佳利用。

这个目的通过一种故障电流保护开关或差动电流保护开关而达成。

据此，测试键的布置方式是，当手柄处于其断开位置时，测试键对于操作人员而言至少部分被手柄遮住(因而不能可操纵)。

本发明基于这样一种认识，即：借助测试键进行测试原本就是只有在手柄处于接通位置时才有意义。因此，手柄处于断开位置时发生在测试键上的情况，对于测试键的合理应用而言并不重要。通过将测试键布置在手柄断开位置区域内手柄的直接偏转区内，即测试键不远离手柄布置，可在故障电流保护开关或差动电流保护开关的操作区内获得用于安置标签的空间。当手柄处于断开位置时，测试键根本不可操纵，这一点并不会产生不利影响，其中，测试键被部分遮住可以是测试键不可操纵的原因所在，此外，其他机构也有可能导致测试键的不可操纵性。

在很多传统故障电流保护开关或差动电流保护开关中，当测试键受到操纵时，手柄会从其接通位置弹回至其断开位置。为避免这种情况，进而避免操作人员通过手指按压对测试键进行操作时受到回弹手柄的妨碍或伤害，保护开关优选具有一个可随测试键一起运动的闭锁元件，当测试键被按下至其接通位置时，这个闭锁元件将手柄闭锁，从而避免手柄从其接通位置(按下测试键时，手柄必须处于这个位置)回复至其断开位置。

为使保护开关进一步具有紧凑结构，也可作如下设置：当手柄处于其断开位置时，手柄朝测试键的接通位置方向按下该测试键，当手柄处于其接通位置时，由一个弹簧将测试键推到该测试键的断开位置上。

也就是说，当需要测试键具有可操纵性时，测试键略微凸出，这可以简化操作。当手柄处于其断开位置，即没有必要对测试键进行操纵时，测试键就隐藏在手柄的下面或旁边，以达到节省空间的目的。