[发明专利]电路板组件、电子设备及电路板组件的测试方法

说明书

本申请提供了一种电路板组件、电子设备及电路板组件的测试方法，电路板组件包括电路板、固定于电路板的功能模块和固定于电路板的开关模块，电路板设有测试端部，功能模块、开关模块和测试端部依次电连接，测试端部用以电连接测试治具，开关模块随测试端部与测试治具连接或断开而处于闭合状态或断开状态。当利用测试治具连接测试端部时，可以控制开关模块进入闭合状态，以使得功能模块和测试端部相导通，进而便于对功能模块进行数据矫正；数据矫正完成之后，可以控制开关模块进入断开状态，以使得功能模块和测试端部断开连接，从而避免测试端部接触其他导体而短路。

技术领域

本申请涉及电路板的技术领域，具体涉及一种电路板组件、电子设备及电路板组件的测试方法。

背景技术

目前电子设备包括电路板组件，电路板组件包括电路板和与电路板固定连接的功能模块，电路板设有电连接功能模组的金属触点，通常利用测试治具连接金属触点，进而对功能模块进行数据矫正，但测试完成之后，还需要额外设置硅胶件封住金属触点，来避免金属触点与其他导体接触而短路。

发明内容

本申请实施例提供一种电路板组件，所述电路板组件包括电路板、固定于所述电路板的功能模块和固定于所述电路板的开关模块，所述电路板设有测试端部，所述功能模块、所述开关模块和所述测试端部依次电连接，所述测试端部用以电连接测试治具，所述开关模块随所述测试端部与所述测试治具连接或断开而处于闭合状态或断开状态。

本申请实施例还提供一种电子设备，所述电子设备包括如上所述的电路板组件。

本申请实施例还提供一种电路板组件的测试方法，所述电路板组件的测试方法包括如下的步骤：

提供一电路板组件，所述电路板组件包括电路板、固定于所述电路板的功能模块和固定于所述电路板的开关模块，所述电路板设有测试端部，所述功能模块、所述开关模块和所述测试端部依次电连接；

提供一测试治具；

将所述测试治具连接所述测试端部；

控制所述开关模块进入闭合状态，以使所述功能模块与所述测试端部导通；

通过所述测试治具经所述测试端部和所述开关模块对所述功能模块进行数据矫正；

将所述测试治具与所述测试端部断开连接；

控制所述开关模块进入断开状态，以使所述功能模块与所述测试端部断开连接。

本申请实施例提供一种电路板组件、电子设备及电路板组件的测试方法，通过所述电路板组件包括电路板、固定于所述电路板的功能模块和与所述功能模块电连接的开关模块，且所述电路板设有与所述开关模块电连接的测试端部，当利用测试治具连接测试端部时，可以控制所述开关模块进入闭合状态，以使得所述功能模块和所述测试端部相导通，进而便于对功能模块进行数据矫正；数据矫正完成之后，可以控制所述开关模块进入断开状态，以使得所述功能模块和所述测试端部断开连接，从而避免所述测试端部接触其他导体而短路。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的电路板组件的结构示意图一；

图2是本申请实施例提供的电路板组件的结构示意图二；

图3是图2中P－P处的截面示意图；

图4是本申请实施例提供的电路板组件的结构示意图三；

图5是图4中Q－Q处的截面示意图；

图6是本申请实施例提供的电路板组件的结构示意图四；