[发明专利]影像撷取装置及影像撷取方法在审
申请号: | 201811466079.1 | 申请日: | 2018-12-03 |
公开(公告)号: | CN111263131A | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 宏碁股份有限公司 |
主分类号: | H04N13/239 | 分类号: | H04N13/239;H04N13/246 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 | 代理人: | 余功勋 |
地址: | 中国台湾新北市22*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 影像 撷取 装置 方法 | ||
1.一种影像撷取装置,包括:
第一感测器,具有第一感测区域,其中所述第一感测区域包括第一取样区域和第一预留区域;
第一镜头,在第一平面形成第一影像,其中所述第一平面包括所述第一感测区域;
第二感测器,具有第二感测区域,其中所述第二感测区域包括第二取样区域和第二预留区域;
第二镜头,在第二平面形成第二影像,其中所述第二平面包括所述第二感测区域;
存储介质,储存多个指令以及对应于所述第一镜头和所述第二镜头的干涉数据;以及
控制器,连接所述第一感测器、所述第二感测器以及所述存储介质,其中所述控制器用以执行所述多个指令,且所述多个指令包括:
根据所述干涉数据和所述第一预留区域调整所述第一取样区域在所述第一感测区域的第一位置,从而取样所述第一影像并产生第一输出影像;以及
根据所述干涉数据和所述第二预留区域调整所述第二取样区域在所述第二感测区域的第二位置,从而取样所述第二影像并产生第二输出影像。
2.如权利要求1所述的影像撷取装置,其特征在于,所述干涉数据对应于所述第一感测区域上的第一干涉区域,且根据所述干涉数据和所述第一预留区域调整所述第一取样区域在所述第一感测区域的第一位置的指令,包括:
根据所述第一预留区域调整所述第一位置,借以使所述第一取样区域不与所述第一干涉区域重叠。
3.如权利要求2所述的影像撷取装置,其特征在于,所述存储介质还储存所述第一镜头的第一公差,并且根据所述第一预留区域调整所述第一位置的指令,包括:
根据所述第一公差调整所述第一位置。
4.如权利要求3所述的影像撷取装置,其特征在于,所述第一公差指示所述第一镜头的光轴中心点在所述第一感测区域的偏移量。
5.如权利要求1所述的影像撷取装置,其特征在于,所述第一预留区域为所述第一影像在所述第一感测区域上的投影,且所述第一取样区域小于所述第一预留区域。
6.一种影像撷取方法,包括:
在第一平面形成第一影像,其中所述第一平面包括所述第一感测区域,并且所述第一感测区域包括第一取样区域和第一预留区域;
在第二平面形成第二影像,其中所述第二平面包括所述第二感测区域,并且所述第二感测区域包括第二取样区域和第二预留区域;
取得对应所述第一影像和所述第二影像的干涉数据;
根据所述干涉数据和所述第一预留区域调整所述第一取样区域在所述第一感测区域的第一位置,从而取样所述第一影像并产生第一输出影像;以及
根据所述干涉数据和所述第二预留区域调整所述第二取样区域在所述第二感测区域的第二位置,从而取样所述第二影像并产生第二输出影像。
7.如权利要求6所述的影像撷取方法,其特征在于,所述干涉数据对应于所述第一感测区域上的第一干涉区域,且根据所述干涉数据和所述第一预留区域调整所述第一取样区域在所述第一感测区域的第一位置的步骤,包括:
根据所述第一预留区域调整所述第一位置,借以使所述第一取样区域不与所述第一干涉区域重叠。
8.如权利要求7所述的影像撷取方法,其特征在于,还包括:
取得对应第一镜头的第一公差,其中根据所述第一预留区域调整所述第一位置的步骤,包括:
根据所述第一公差来调整所述第一位置。
9.如权利要求8所述的影像撷取方法,其特征在于,所述第一公差指示所述第一镜头的光轴中心点在所述第一感测区域的偏移量。
10.如权利要求6所述的影像撷取方法,其特征在于,所述第一预留区域为所述第一影像在所述第一感测区域上的投影,且所述第一取样区域小于所述第一预留区域。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宏碁股份有限公司,未经宏碁股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811466079.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种绝缘栅双极型晶体管及其制备方法
- 下一篇:清洁装置及清洁方法