[发明专利]一种SSD的异常掉电测试方法、装置、介质及设备在审
申请号: | 201811463938.1 | 申请日: | 2018-12-03 |
公开(公告)号: | CN109509508A | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 陈庆陆 | 申请(专利权)人: | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 异常掉电 目标SSD 掉电 目标电源 测试 记录 申请 测试装置 获取目标 电源 供电 检测 | ||
1.一种SSD的异常掉电测试方法,其特征在于,包括:
检测目标SSD是否发生异常掉电;
若是,则利用目标电源为所述目标SSD供电,并获取所述目标SSD的掉电记录,以利用所述掉电记录对所述目标SSD进行异常掉电测试;其中,所述目标电源为预先添加到所述目标SSD上的电源。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标电源具体为12V的DC电源。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述目标SSD的掉电记录,以利用所述掉电记录对所述目标SSD进行异常掉电测试的过程,包括:
通过所述目标SSD的串口获取所述目标SSD的掉电记录,以利用所述掉电记录对所述目标SSD进行异常掉电测试。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述目标SSD的掉电记录的过程之后,还包括:
将所述掉电记录存储至日志。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述掉电记录对所述目标SSD进行异常掉电测试的过程之后,还包括:
利用仿真器查看所述目标SSD的固件运行情况。
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法,其特征在于,所述利用所述掉电记录对所述目标SSD进行异常掉电测试的过程之后,还包括:
利用单路继电器模块重复模拟所述目标SSD的异常掉电,以对所述目标SSD的异常掉电测试结果的稳定性进行评估。
7.一种SSD的异常掉电测试装置,其特征在于,包括:
掉电检测模块,用于检测目标SSD是否发生异常掉电;
掉电测试模块,用于所述掉电检测模块的判定结果为是时,则利用目标电源为所述目标SSD供电,并获取所述目标SSD的掉电记录,以利用所述掉电记录对所述目标SSD进行异常掉电测试;其中,所述目标电源为预先添加到所述目标SSD上的外接电源。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,还包括:
稳定性测试模块,用于利用所述掉电记录对所述目标SSD进行异常掉电测试的过程之后,利用单路继电器模块重复模拟所述目标SSD的异常掉电,以对所述目标SSD的异常掉电测试结果的稳定性进行评估。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的SSD的异常掉电测试的步骤。
10.一种SSD的异常掉电测试设备,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述的SSD的异常掉电测试方法的步骤。
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