[发明专利]门级电阻自动切换电路及双脉冲自动测试电路

说明书

本发明揭示了一种门级电阻自动切换电路，包括门级电阻阵列、与门级电阻阵列串联的可控开关阵列和推挽电路，门级电阻阵列包括相隔离的开通电阻阵列和关断电阻阵列，其通过可控开关阵列的开关的不同组合产生不同阻值的门级电阻；推挽电路用于将开通电阻阵列和关断电阻阵列分离解耦。本发明还揭示了一种双脉冲自动测试电路。本发明实现在双脉冲测试模式下电阻全自动切换，提高了测试效率和安全性，且支持更高的瞬间门级电流及实现开通和关断电阻的自由调节。

技术领域

本发明涉及一种双脉冲测试技术，尤其是涉及一种门级电阻自动切换电路及双脉冲自动测试电路。

背景技术

双脉冲测试是用于测试功率器件开关特性最重要的一种测试方法。在双脉冲测试中，往往会通过调节门级电阻的方式来调节器件的开关速度以及电压应力。

传统的方式是通过人工焊接的方式切换门级电阻的阻值，这种方式不仅耗时长，效率低，还容易出错，并且在一些高温测试的场景还会带来很多不便和安全隐患。

在专利申请号为：CN201611240202.9的中国专利中，公开了一种栅极电阻、电容连续可调的IGBT测试电路，该电路可实现电阻自动切换。但是仍然存在以下缺点：(1)其采用光继电器的方式不能支持更高导通电流，从而大大限制测试的条件和范围，(2)光继电器体积往往也比较大，多个光继电器会导致门级回路较大，进而造成测试结果和实际有较大的偏差，(3)其门级电阻组合的方式没有将开通电阻和关断电阻解耦，测试人员无法自由的分别调节开通和关断电阻，从而会为测试带来极大不便。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种支持更高导通电流、实现开通和关断电阻自由调节等的门级电阻自动切换电路及双脉冲自动测试电路。

为实现上述目的，本发明提出如下技术方案：一种门级电阻自动切换电路，包括门级电阻阵列、可控开关阵列、隔离控制芯片阵列和推挽电路，其中，

所述门级电阻阵列与可控开关阵列串联，其包括相隔离的开通电阻阵列和关断电阻阵列，所述开通电阻阵列包括n+1个相并联的开通电阻，所述开通电阻阵列在可控开关阵列的控制下最多可产生2ⁿ个开通门级电阻阵列组合；所述关断电阻阵列包括m+1个相并联的关断电阻，所述关断电阻阵列在可控开关阵列的控制下最多可产生2^m个关断门级电阻阵列组合，其中，n,m为正整数；

所述可控开关阵列包括相隔离的第一可控开关阵列和第二可控开关阵列，所述第一可控开关阵列与开通电阻阵列串联，用于控制开通电阻阵列；所述第二可控开关阵列与关断电阻阵列串联，用于控制关断电阻阵列；

所述隔离控制芯片阵列用于控制所述可控开关阵列的开通和关断；

所述推挽电路用于将开通电阻阵列和关断电阻阵列分离解耦，其包括两个不同极性的第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管与开通电阻阵列相连，所述第二晶体管与关断电阻阵列相连。

优选地，所述隔离控制芯片阵列包括与所述第一可控开关阵列相连的第一隔离控制芯片阵列和与所述第二可控开关阵列相连的第二隔离控制芯片阵列。

优选地，所述第一可控开关阵列包括n个相并联的第一可控开关，每个所述第一可控开关与相对应的每个开通电阻串联；所述第二可控开关阵列包括m个相并联的第二可控开关，每个所述第二可控开关与相对应的每个关断电阻串联。

优选地，所述第一隔离控制芯片阵列包括n个第一隔离控制芯片，每个所述第一隔离控制芯片连接相对应的每个第一可控开关；所述第二隔离控制芯片阵列包括m个第二隔离控制芯片，每个所述第二隔离控制芯片连接相对应的每个第二可控开关。

优选地，所述第一可控开关和第二可控开关为MOSFET管或机械式开关。

优选地，所述可控开关阵列设置于门级回路中，所述隔离控制芯片阵列设置于门级回路外。