[发明专利]数据测试方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质

说明书

本发明涉及人工智能领域，具体提供了一种数据测试方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质，测试方法包括如下步骤：首先接收测试请求，进入数据测试模式；然后获取需要测试的数据，将数据与测试程序关联得测试任务；然后启动同步触发程序，将同步触发程序与各测试任务相关联；再然后将各测试任务和与各测试任务相关联的同步触发程序关联后存储至缓存区域；接着当检测到测试测试触发指令时，通过同步触发程序，同时进行各测试数据的测试工作，获得与需要测试的数据相对应的测试结果。上述数据测试方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质，能够实现各测试数据的同时测试，各测试过程同时进行，与逐一测试相比，测试时间缩短。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，更为具体地，涉及一种数据测试方法、系统、装置及可读存储介质。

背景技术

现有的测试工作中，常常需要测试多个、多种数据，每次测试均需要触发测试申请，进行测试，并将测试的结果输出，但是实际测试工作中，处理器需耗费较多的时间对数据进行解析，每项测试工作均需大量的测试时间；工作人员逐一对数据进行测试，还需耗费大量的时间等待测试结果。

同时，每天触发测试申请、输出测试结果均较为频繁，导致产生大量的代码冗余，需要大量的存储空间，同时消耗服务器的性能，降低系统的效率。

发明内容

为了解决现有技术中待测试数据分别测试时需要耗费大量的时间等待测试结果的问题，本发明提供一种数据测试方法及系统。

本发明提供的一种数据测试方法，应用于电子装置，测试方法包括如下步骤：

第一步、接收测试请求，进入数据测试模式；然后获取与测试请求对应的需要测试的数据，将需要测试的数据与对应的测试程序关联，形成测试任务；

第二步、启动同步触发程序，将同步触发程序与各测试任务相关联；

第三步、将与同步触发程序相关联的各测试任务存储至缓存区域的任务队列中；

第四步、当检测到同步触发程序的测试触发指令时，启动线程池中的线程处理任务队列中的测试任务，通过同步触发程序，同时进行各测试数据的测试工作，获得与需要测试的数据相对应的测试结果。

优选的，第四步中，测试触发指令的发出过程是：每隔一定时间，发出一次测试触发指令。

优选的，第四步中，测试触发指令的发出过程是：检测缓存区域中缓存的需要测试的数据的存储量或测试任务量；当数据的存储量达到第一预设阈值，或者测试任务的测试任务量达到第二预设阈值时，发出测试触发指令。

优选的，在启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务时，根据待处理的测试任务的总数量以及预先设置的所述线程池的最大线程数量，动态的调整启动的线程的数量。可以理解的是，可以根据测试任务的任务量的需要预设设置最大线程数，在每次启动线程池执行任务时，可以根据任务队列中的任务量开启不超过最大线程数的多个线程，开启的线程数根据测试任务的总数量，最大线程数确定。

再优选的，获取各测试任务的测试时间，以各测试任务的测试时间为权重，平均分配各线程内的测试任务数量和种类。

另一方面，本发明提供一种数据测试系统，应用于电子装置，包括：

测试任务建立单元，用于接收测试请求，进入数据测试模式；然后获取与所述测试请求对应的需要测试的数据，将所述需要测试的数据与对应的测试程序关联，形成测试任务；

关联单元，用于启动同步触发程序，将同步触发程序与各测试任务相关联；

缓存单元，用于将与同步触发程序相关联的各测试任务存储至缓存区域的任务队列中；