[发明专利]一种透镜检测方法有效
| 申请号: | 201811455647.8 | 申请日: | 2018-11-30 |
| 公开(公告)号: | CN109454010B | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
| 发明(设计)人: | 李涛;徐裕宏;陈宗涛;柯勇;饶艳芬;曹雪林;徐攀;沈鹏 | 申请(专利权)人: | 松林光电科技(湖北)有限公司 |
| 主分类号: | B07C5/04 | 分类号: | B07C5/04;B07C5/36;B07C5/02 |
| 代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 黄行军;梅辰 |
| 地址: | 432100 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 透镜 检测 方法 | ||
1.一种透镜检测方法,其特征在于:包括以下步骤:1)、将待检透镜放置到待检料盘(1)中,然后从待检料盘(1)中取出第一片待检透镜,调整第一片待检透镜姿态然后将其移载至检测工位(6);
2)、对处于检测工位(6)的第一片待检透镜进行外径误差和中心厚度的检测,记录检测结果;
3)、根据检测结果,对检测后的透镜进行分拣,检测合格的透镜移载到待检料盘(1)中的空位上,检测不合格的透镜移载到不合格品工位(7)上等待进一步转移;
4)、依次重复步骤1)、2)和3),直至所有的待检透镜检测完成;
所述的步骤1)中,将待检透镜放置到待检料盘(1)中的方法为:将待检透镜按照纵向成列横向成排的阵列模式放置在待检料盘(1)中,每块待检透镜沿竖直方向放置在待检料盘(1)的空位上,待检料盘(1)在待检透镜放置完成后预留一列或是一排空位作为合格品透镜的放置位置。
2.如权利要求1所述的一种透镜检测方法,其特征在于:所述的步骤1)中,调整第一片待检透镜姿态的方法为:将待检透镜从竖直放置姿态调整至水平放置姿态。
3.如权利要求1所述的一种透镜检测方法,其特征在于:所述的步骤1)中,将第一片待检透镜移载至检测工位(6)的方法为:通过上下料装置(2)从待检料盘(1)中取出第一片待检透镜,将竖直姿态的第一片待检透镜调整至水平姿态放置在待检工位(3)上,再由转运装置(5)从待检工位(3)上抓取第一片待检透镜将其转移到检测工位(6)上。
4.如权利要求1所述的一种透镜检测方法,其特征在于:所述的步骤2)中,对处于检测工位(6)的第一片待检透镜进行外径误差检测的方法包括以下步骤:1)、将第一待检透镜固定在检测治具上,建立坐标系;
2)、在第一待检透镜的四周布置至少三个以上的传感器(9),计算三个不在同一条直线上的传感器(9)在其探头接触到第一片待检透镜的外径边缘后探头的坐标参数A11、A12、A13;
3)、根据三点定圆原理通过A11、A12、A13计算三点确定的圆的直径D1,将D1与第一片待检透镜外径设定值D进行比对,若D1与D差值处于设计误差范围内,认为该次测量下第一片待检透镜外径误差符合设计要求,否则认为该次测量下第一片待检透镜外径误差不符合设计要求;
4)、待第一次测量完成后,通过另外三个不在同一条直线上的传感器(9)对第一片待检透镜进行第二次外径误差测量,按照步骤3)记载的方法对测量结果进行分析,依次进行直至完成n次外径误差测量,若n次外径误差测量中不符合设计要求的测量结果小于m次,则认为该待检透镜为合格品,否则认为该第一片待检透镜为不合格品。
5.如权利要求4所述的一种透镜检测方法,其特征在于:所述的计算三个不在同一条直线上的传感器(9)在其探头接触到第一片待检透镜的外径边缘后探头的坐标参数A11、A12、A13的方法为:所述的传感器(9)为可记录移动距离的位移传感器,测量前先记录传感器(9)初始状态下探头的坐标参数A01、A02、A03,驱动传感器(9)移动使其探头接触第一片待检透镜的外径边缘,再记录传感器(9)的位移值L1、L2、L3,通过坐标转换获得探头接触第一片待检透镜外径边缘时的坐标值A11、A12、A13。
6.如权利要求1所述的一种透镜检测方法,其特征在于:所述的步骤3)中,对检测后的透镜进行分拣的方法为:当处于检测工位(6)上的透镜被检测为合格品时,转运装置(5)从检测工位(6)上将该透镜抓取移载至合格品工位(4)上;当处于检测工位(6)上的透镜被检测为不合格品时,转运装置(5)从检测工位(6)上将该透镜抓取移载至不合格品工位(7)上。
7.如权利要求6所述的一种透镜检测方法,其特征在于:所述的步骤3中,检测合格的透镜移载到待检料盘(1)中的空位上的方法为:上下料装置(2)移动至合格品工位(4)上,抓取合格品透镜并移载至待检料盘(1)上,将水平姿态的合格品透镜调整至竖直姿态,然后放置在待检料盘(1)上的空位中。
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