[发明专利]一种磨样装置

说明书

本发明公开了一种磨样装置，包括两个H形支架和磨盘，两个H形支架上端设有两个横梁，两个横梁之间架设有滑动部件，滑动部件左右移动；滑动部件上设有下压部件；下压部件下端设有弹性夹持件，弹性夹持件内是待磨试样；两个H形支架之间前后分别水平设置有第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆，第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆、第四滑动杆与待磨试样之间水平设置有连接件；磨盘设于待磨试样下方，磨盘上装设有磨样件。本发明解决了手工磨样过程中出现的过磨或磨斜的问题，提高了介电参数测试的准确性；实现了结构疏松的待测试样介电参数测试试样制样过程的标准化、规范化，避免了磨样过程中对试样的损坏。

技术领域

本发明涉及电磁屏蔽材料技术领域，尤其涉及一种磨样装置。

背景技术

随着电子产品快速走进人们的生活，随之而来的是电磁波污染，因此电磁屏蔽材料的研发就显得尤为重要。介电性能是指在电场作用下，表现出对静电能的储蓄和损耗的性质，通常用介电常数和介质损耗来表示，材料的介电性能直接表征了材料的电磁屏蔽性能，因此，对材料介电性能的研究是解决电磁屏蔽问题的关键。

介电性能是指物质分子中的束缚电荷对外加电场的响应特性，通常主要由相对介电常数ε_r'、相对介质损耗因数ε_r〃、介质损耗角正切tanδ等参数来表征。在实验研究过程中，材料的相对介电常数ε_r'和相对介质损耗因数ε_r〃是可以通过矢量网络分析仪测试出来的，而在测试的过程中对样品的的尺寸要求很严格，要求是规整的长方体，因此，一般烧结或喷涂所制备出来的试样都需要经过磨样以达到测试所要求的尺寸。

目前，实验室均是采用手动人工用砂纸打磨来制备尺寸合适的试样，而人工操作过程中会出现过磨或将试样的边磨成斜边的现象，这样的试样无法完成介电参数的测试，需要进行重新制样；即使勉强进行测试，测试结果的误差很大准确率也会非常低。而传统的镶样再磨样的制样过程，在试样磨好后需要将整个镶制样砸碎，取出待测试样，此过程会对待测试样带来一定程度的破坏，特别是在待测试样为结构疏松、较脆的涂层时，该过程直接会导致试样的破碎；且在夹持件的夹持力较大时，较脆的材料中极易出现微裂纹，微裂纹会导致介电参数测试结果误差进一步加大。

发明内容

为了解决上述问题，本发明的目的是提出一种磨样装置，解决了手工磨样过程中出现的过磨或磨斜的问题，实现了介电参数测试试样尺寸的精准控制，进而大大的提高介电参数测试的准确性；同时实现了待测试样为结构疏松、较脆的涂层时，介电参数测试试样制样过程的标准化、规范化，避免了磨样过程中对试样的损坏。

为了达到上述目的，本发明采用以下技术方案予以解决。

一种磨样装置，包括两个H形支架和磨盘，两个H形支架分别对称设置于所述磨盘的左侧和右侧，两个H形支架的上端设置有两个横梁，两个横梁之间架设有滑动部件，所述滑动部件沿横梁左右移动；所述滑动部件上设置有下压部件，所述下压部件上下移动；所述下压部件的下端设置有弹性夹持件，所述弹性夹持件内是待磨试样；

两个H形支架上前后分别水平设置有第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆，所述第一滑动杆与第二滑动杆位于同一水平面，所述第三滑动杆与第四滑动杆位于同一水平面，且所述第三滑动杆与第四滑动杆设置于所述第一滑动杆和第二滑动杆的上方，所述第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆分别左右移动；所述第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆、第四滑动杆与待磨试样之间水平设置有连接件；所述第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆、第四滑动杆分别与连接件铰接，且连接件绕对应的滑动杆在竖直面上逆时针转动；

所述磨盘设置于待磨试样下方，所述磨盘上装设有磨样件。

另外，本发明提供的磨样装置还可以具有以下附加技术特征：

优选的，还包括驱动部件，所述第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆分别与驱动部件连接。