[发明专利]碳酸盐岩孔隙系统的多尺度表征方法及装置

说明书

本发明提供了一种碳酸盐岩孔隙系统的多尺度表征方法及装置。所述方法包括：分析碳酸盐岩储层，确定所述碳酸盐岩储层的储层类型及孔隙类型；根据所述碳酸盐岩储层的储层类型及孔隙类型，选取储层样品；对所述储层样品进行孔隙定量表征，确定样品孔隙特征；判断所述样品孔隙特征是否满足预设条件；若否，则更新所述储层样品并确定更新后的储层样品对应的样品孔隙特征，直至所述样品孔隙特征满足预设条件；其中，所述更新后的储层样品尺度小于更新前的储层样品尺度。本发明通过对碳酸盐岩储层中的孔隙系统进行多尺度的表征，可以适应于不同类型的孔隙，同时提高了表征结果的代表性。

技术领域

本发明涉及碳酸盐岩孔隙系统表征技术领域，尤指一种碳酸盐岩孔隙系统的多尺度表征方法及装置。

背景技术

碳酸盐岩微观储层孔喉结构常用的表征方法主要有铸体薄片法、扫描电镜法、氦气(空气)体积法、压汞法等，但是这些方法有两个缺点：1.多从地质统计学出发，获取的参数也仅考虑了样品的宏观统计信息，忽略了碳酸盐岩储层强烈的非均质性，如压汞法等，并不能很好地适用于不同孔隙类型的储层，特别是孔洞型储层；2.只涉及二维空间上孔隙系统的特征，获取的表征参数也只是孔隙系统在二维空间的展布特性，如铸体薄片法与扫描电镜法只是对样品单一层面的取样，不能反映立体结构，与实际岩石孔隙系统的拓扑学结构、空间展布特征有较大出入，如二维空间割裂了三维空间的连续性分布。

近年来，高分辨率CT实验技术越来越受到大家的重视，并得到越来越多的应用。然而，由于CT仪器价格昂贵，实验成本高，很多应用或实验只是选取简单的单一样品，获取样品的孔隙结构特征和孔隙参数，从而忽视了碳酸盐岩储层表征的尺度因素和非均质性因素，使得实验结果代表性不足。

由于碳酸盐岩强烈的非均质性和储集空间的复杂性，使得碳酸盐岩储层表征，特别是碳酸盐岩孔隙系统的微观表征需要综合运用多种方法，多尺度地进行详细研究。

发明内容

为了解决现有的表征方法中存在的适用性不强、实验结果代表性不足等问题，本发明实提供一种碳酸盐岩孔隙系统的多尺度表征方法，所述方法包括：

分析碳酸盐岩储层，确定所述碳酸盐岩储层的储层类型及孔隙类型；

根据所述碳酸盐岩储层的储层类型及孔隙类型，选取储层样品；

对所述储层样品进行孔隙定量表征，确定样品孔隙特征；

判断所述样品孔隙特征是否满足预设条件；若否，则更新所述储层样品并确定更新后的储层样品对应的样品孔隙特征，直至所述样品孔隙特征满足预设条件；其中，所述更新后的储层样品尺度小于更新前的储层样品尺度。

可选的，在本发明一实施例中，所述储层样品包括全直径样品、柱塞样品、毫米级样品及微米级样品；所述对所述储层样品进行孔隙定量表征，确定样品孔隙特征进一步包括：对所述储层样品进行小于其对应尺度级别的扫描，获得样品数字图像；分析所述样品数字图像，确定所述样品孔隙特征。

可选的，在本发明一实施例中，所述样品孔隙特征包括孔隙发育特征、孔隙半径分布特征及孔隙度；所述判断所述样品孔隙特征是否满足预设条件；若否，则更新所述储层样品并确定更新后的储层样品对应的样品孔隙特征进一步包括：判断更新前的储层样品对应的所述孔隙发育特征是否满足预设发育均匀度，以及所述孔隙半径分布特征是否满足预设分布均匀度；若均不满足，则根据更新前的储层样品对应的所述孔隙发育特征及所述孔隙半径分布特征，于所述更新前的储层样品上确定选样区域，于所述选样区域内选取更新后的储层样品，并对所述更新后的储层样品进行孔隙定量表征确定其对应的样品孔隙特征。

可选的，在本发明一实施例中，所述方法还包括：根据不同尺度储层样品对应的所述样品孔隙特征，确定所述碳酸盐岩储层的表征结果。

本发明实施例还提供一种碳酸盐岩孔隙系统的多尺度表征装置，所述装置包括：