[发明专利]校验数据生成方法及固态硬盘有效
申请号: | 201811450337.7 | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN109542671B | 公开(公告)日: | 2022-06-07 |
发明(设计)人: | 任艳伟 | 申请(专利权)人: | 湖南国科微电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10;G06F3/06 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 吴迪 |
地址: | 410000 湖南省长沙市*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校验 数据 生成 方法 固态 硬盘 | ||
本发明涉及固态硬盘技术领域,提供一种校验数据生成方法及固态硬盘,所述方法包括:对起始编号的数据die中多个plane做校验运算,得到第一校验数据;将第一校验数据与和起始编号连续的当前编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算,得到第二校验数据;将第二校验数据与和当前编号连续的下一个编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算,直到完成多个数据die的校验运算,得到校验结果。本发明通过对现有RAID的改进,对每个RAID条带做校验运算时只需要一份内存资源,大大减少了RAID对内存资源的消耗,提升了固态硬盘的性能。
技术领域
本发明涉及固态硬盘技术领域,具体而言,涉及一种校验数据生成方法及固态硬盘。
背景技术
当前大容量低成本的三维堆叠的三层存储单元(3D Trinary-Level Cell,3DTLC)和三维堆叠的四层存储单元(3D Quad-Level Cell,3D QLC)NAND闪存的使用越来越普遍,然而由于电压存储状态变多,每种状态分布范围变小,随之带来的错误率增高,另外,NAND闪存在出厂时就存在某些块(block)的存储单元(cell)被击穿不可用的问题,这些问题对NAND的固态硬盘(Solid State Drives,SSD)的控制器提出了较高要求,现有技术使用独立冗余磁盘阵列(Redundant Array of Independent Disks,RAID)进行纠错,由于RAID硬件模块需要大量的内存资源做校验运算,而SSD盘的控制器由于成本和面积的限制,导致其带有的内存资源极其有限,但是,现有的RAID对每个RAID条带做校验运算时需要至少两份内存资源,因此内存资源的消耗比较大,有限的内存资源很容易成为SSD盘性能瓶颈,降低了SSD盘的性能。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种校验数据生成方法及固态硬盘,通过对现有RAID的改进,对每个RAID条带做校验运算时只需要一份内存资源,大大减少了RAID对内存资源的消耗,提升了固态硬盘的性能。
为了实现上述目的,本发明实施例采用的技术方案如下:
第一方面,本发明实施例提供了一种校验数据生成方法,应用于固态硬盘,固态硬盘包括多个依次编号的die,多个die包括多个数据die,每个die包括多个依次编号的plane,所述方法包括:对起始编号的数据die中多个plane做校验运算,得到第一校验数据;将第一校验数据与和起始编号连续的当前编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算,得到第二校验数据;将第二校验数据与和当前编号连续的下一个编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算,直到完成多个数据die的校验运算,得到校验结果。
第二方面,本发明实施例还提供了一种固态硬盘,固态硬盘包括处理器及RAID硬件模块,闪存包括多个依次编号的die,多个die包括多个数据die,每个die包括多个依次编号的plane;处理器用于控制RAID硬件模块对起始编号的数据die中多个plane做校验运算,得到第一校验数据、及控制RAID硬件模块将第一校验数据与和起始编号连续的当前编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算,得到第二校验数据、以及控制RAID硬件模块将第二校验数据与和当前编号连续的下一个编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算,直到完成多个数据die的校验运算,得到校验结果。
相对现有技术,本发明实施例提供的一种校验数据生成方法及固态硬盘,首先,对起始编号的数据die中多个plane做校验运算,得到第一校验数据;然后,将第一校验数据与和起始编号连续的当前编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算,得到第二校验数据;最后,将第二校验数据与和当前编号连续的下一个编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算,直到完成多个数据die的校验运算,得到校验结果。与现有技术相比,本发明实施例通过对现有RAID的改进,对每个RAID条带做校验运算时只需要一份内存资源,大大减少了RAID对内存资源的消耗,提升了固态硬盘的性能。
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