[发明专利]集成电路转放装置及转放方法

说明书

本发明涉及一种集成电路转放装置，包括：底座，与底座上端连接的底轨、对称设于底轨两侧的两个开合导向器，设有下端伸入底轨中的推料杆的推料装置，料管收料装置，设于料管收料装置前侧的推管装置，设于料管收料装置后侧的移管装置；料管收料装置包括：分别与底座上端连接的左支架和右支架，左支架和右支架的相对面分别设有的且与上端贯通的前竖槽和后竖槽、分别与前竖槽下端和后竖槽下端连通的横槽，左支架左端设有的与底轨右端相对且与后竖槽下端连通的过管孔，设于后竖槽下侧的升管装置，设于左支架左端和底轨右端之间的夹管定位装置。所述的集成电路转放装置，转放集成电路效率较高，利于实现集成电路检测分选自动化。

技术领域

本发明涉及集成电路检测领域，尤其是一种集成电路转放装置及转放方法。

背景技术

集成电路在检测分选过程中需要转道；将集成电路放在料盘或料管中利于转道和储存，且能适应不同检测分选设备的上下料需要；当为适应不同检测分选设备检测，需要将集成电路从料盘转放入料管中时，由于没有合适的转放设备，存在转放集成电路效率较低，不利于实现集成电路检测分选自动化的不足；因此，设计一种转放集成电路效率较高，利于实现集成电路检测分选自动化的集成电路转放装置，成为亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是为了克服目前当为适应不同检测分选设备检测，需要将集成电路从料盘转放入料管中时，由于没有合适的转放设备，存在转放集成电路效率较低，不利于实现集成电路检测分选自动化的不足，提供一种转放集成电路效率较高，利于实现集成电路检测分选自动化的集成电路转放装置及转放方法。

本发明的具体技术方案是：

一种集成电路转放装置，包括：底座，与底座上端连接的底轨、对称设于底轨两侧的两个开合导向器，设有下端伸入底轨中的推料杆的推料装置，料管收料装置，设于料管收料装置前侧的推管装置，设于料管收料装置后侧的移管装置；料管收料装置包括：分别与底座上端连接的左支架和右支架，左支架和右支架的相对面分别设有的且与上端贯通的前竖槽和后竖槽、分别与前竖槽下端和后竖槽下端连通的横槽，左支架左端设有的与底轨右端相对且与后竖槽下端连通的过管孔，设于后竖槽下侧的升管装置，设于左支架左端和底轨右端之间的夹管定位装置。所述的集成电路转放装置使用时，推管装置推动位于前竖槽中的最下第一个空料管沿横槽向后运动到后竖槽下端，转放机械手从料盘吸附集成电路转放到底轨上，两个开合导向器向底轨侧运动合拢挡住集成电路进行导向，移管装置带动空料管向左运动，空料管的左端穿过过管孔压住底轨右端，空料管的右端位于右支架的后竖槽下端，夹管定位装置夹住空料管定位，推料装置带动推料杆向右运动推动集成电路沿底轨向右运动进入空料管左端中，推料杆逐个推动集成电路沿底轨向右运动进入料管左端中直至装满料管，夹管定位装置松开料管，移管装置移动料管向右运动，料管的左端穿过过管孔复位，升管装置带动装满集成电路的料管向上运动进行收料，推管装置推动位于前竖槽中的第二个空料管沿横槽向后运动到后竖槽下端；所述的集成电路转放装置，转放集成电路效率较高，利于实现集成电路检测分选自动化。

作为优选，所述的左支架和右支架之间设有至少一个与底座上端连接的料管定位块；料管定位块上端设有两端与左支架的前竖槽和右支架的前竖槽一一对应相对的料管定位槽；料管定位块的上端高于横槽的底面且低于横槽的顶面，料管定位槽的底端与料管定位块的底面齐平。料管定位块上端设有料管定位槽利于孔料管定位不会向后移动。

作为优选，所述的左支架包括：与底座连接的左底板，下端分别与左底板连接的左外板和位于左外板右侧的左内板，多个两端与左外板右端和左内板左端一一对应连接的左连接柱，左支架的前竖槽和后竖槽位于左内板上，横槽位于左内板下端和左底板上端之间，过管孔位于左外板上；右支架包括：与底座连接的右底板，下端分别与右底板连接的右外板和位于右外板左侧的右内板，多个两端与右外板左端和右内板右端一一对应连接的右连接柱，左底板和右底板各设有一个底板通孔；右连接柱的长度大于左连接柱的长度。左支架和右支架为分体结构利于制造且省料。