[发明专利]一种光模块测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种光模块测试系统及方法，测试系统包括示波器、功率计、光谱仪、光衰减器、光源模块和误码仪，将光模块的关键测试指标：光功率、消光比、光谱、通道代价、过载、灵敏度、接收/发射端监控等测试项目整合到一个测试链路来实现。与现有技术相比，本发明的积极效果是：本发明在保证模块生产测试的情况下，实现了：1、整合了光模块的测试工序，减少了软件管理工作，避免了软件管理的风险，降低了测试成本同时保证了测试需求；2、巧妙的链路设计，增强了仪器的使用效率；3、建立了测试指标之间的关联性，相当于严格了测试要求，增强了测试结果的可靠性。

技术领域

本发明涉及一种光模块测试系统及方法。

背景技术

在光模块的生产中，为了确保模块的质量，需对模块的关键指标进行测试。关键指标包括：光功率、消光比、光谱、通道代价、过载、灵敏度、接收/发射端监控等。现有的测试方式是：通道代价的测试需要单独的测试链路才能实现，而除通道代价以外的其他指标测试则需构建另外的测试链路可能实现。因此，在生产中造成测试工序繁琐，测试人员，设备，场地等资源的浪费，增加了生产成本，降低了测试效率。

发明内容

为了克服现有技术的缺点，本发明提供了一种光模块测试系统及方法，将光模块的关键测试指标：光功率、消光比、光谱、通道代价、过载、灵敏度、接收/发射端监控等测试项目整合到一个测试链路来实现。

本发明所采用的技术方案是：一种光模块测试系统，包括示波器、功率计、光谱仪、光衰减器、光源模块和误码仪，其中：待测模块的发射端Tx信号通过光纤连接至第一光开关的X1端口，其接收端Rx信号通过光纤连接至第二光开关的X1端口；光源模块的发射端Tx_ref信号通过光纤连接至第一光开关的X2端口，其接收端Rx_ref信号通过光纤连接至第二光开关的X2端口；第一光开关的Y1端口与第三光开关的X2端口通过光纤相连，第一光开关的Y2端口经由光分路器后分别连接示波器、功率计和光谱仪的输入端口以及第二光开关的Y1端口；第三光开关的X1与Y1端之间连接10Km光纤桶，第三光开关的Y2端口与光衰减器In端连接；第二光开关的Y2端口与光衰减器Out端连接。

本发明还提供了一种光模块测试方法，包括如下内容：

(1)控制第一光开关和第二光开关处于交叉状态、第三光开关处于直通状态，即可通过读取功率计，示波器，光谱仪测试光模块发射端的光功率，消光比，光谱等参数；调节控制衰减器，通过误码仪即可实现接收端灵敏度、过载的测试；

(2)控制第一光开关和第二光开关处于直通状态，调节控制衰减器，通过误码仪即可测量发射端光路带光纤与不带光纤的灵敏度值，从而测量其通道代价特性。

与现有技术相比，本发明的积极效果是：

本发明在保证模块生产测试的情况下，实现了：

1、整合了光模块的测试工序，减少了软件管理工作，避免了软件管理的风险，测试成本低同时保证了测试需求；

2、巧妙的链路设计，增强了仪器的使用效率；

3、建立指标的关联性，相当于严格了测试要求，增强了测试结果的可靠性。

附图说明

本发明将通过例子并参照附图的方式说明，其中：

图1为本发明的测试链路构成示意图；

图2为通道代价测试中10Km光纤的加载/取消示意图；

图3为接收/发射端测试灵敏度测试、通道代价测试示意图；

图4为待测模块回环连接方式示意图；

图5为控制光开关1，光开关2处于交叉状态，光开关3处于直通状态测试示意图；

图6为控制光开关1，光开关2处于直通状态，光开关3处于交叉状态测试示意图。