[发明专利]三维位移标定架及三维位移校正系数测量方法

权利要求书

1.一种三维位移标定架，其特征在于，包括承载板、立板和多个标定棒；

所述立板固定连接于所述承载板，并且所述立板垂直于承载板；

所述立板上设置有多条第一刻度和多条第二刻度；多条所述第一刻度平行于所述承载板设置，并间隔设置；多条所述第二刻度垂直于所述承载板设置，并间隔设置；多条所述第一刻度和多条所述第二刻度相互交叉呈网形；

所述第一刻度和所述第二刻度相交叉点开设有与所述标定棒相适配的标定孔，所述标定孔垂直于所述立板并贯穿所述立板。

2.根据权利要求1所述的三维位移标定架，其特征在于，多条所述第一刻度等间距设置。

3.根据权利要求1所述的三维位移标定架，其特征在于，多条所述第二刻度等间距设置。

4.根据权利要求1所述的三维位移标定架，其特征在于，所述立板为两块，两块所述立板间隔设置于所述承载板上，并且两块所述立板相互平行；两块所述立板上的多个所述标定孔一一对应。

5.根据权利要求4所述的三维位移标定架，其特征在于，所述立板的厚度为6mm，长度为315mm，宽度为300mm，两块所述立板之间的距离为100mm；

所述承载板的厚度为15mm。

6.根据权利要求1所述的三维位移标定架，其特征在于，所述标定棒上设置有多个刻度组，多个所述刻度组间隔设置，每个所述刻度组包括两条第三刻度，两条所述第三刻度之间的距离为6mm，所述第三刻度的深度为0.5mm；

所述标定棒的长度为200mm。

7.根据权利要求1所述的三维位移标定架，其特征在于，所述标定棒两端的端面中心开设有相互垂直的十字丝，所述十字丝的宽度为1mm，深度为2mm。

8.根据权利要求1所述的三维位移标定架，其特征在于，所述标定孔的直径为10mm；所述标定棒的直径为10mm。

9.一种三维位移校正系数测量方法，其特征在于，采用光学测量仪和如权利要求1-8中任意一项所述的三维位移标定架；

所述三维位移校正系数测量方法包括：

将三个所述标定棒分别插入三个所述标定孔中，其中，三个所述标定孔中，其中两个所述标定孔位于同一条所述第一刻度上，其中两个所述标定孔位于同一条所述第二刻度上；

通过所述光学测量仪测量同一条所述第一刻度上的两个所述标定棒的距离，得到第一测量值；

通过所述光学测量仪测量同一条所述第二刻度上的两个所述标定棒的距离，得到第二测量值；

通过所述光学测量仪测量所述标定棒伸出所述立板的长度，得到第三测量值；

计算位于同一条所述第一刻度上的两个所述标定棒的实际距离，得到第一基准值；

计算位于同一条所述第二刻度上的两个所述标定棒的实际距离，得到第二基准值；

计算所述标定棒伸出所述立板的实际距离，得到第三基准值；

计算所述第一测量值和所述第一基准值的比值，得到第一方向的校正系数；

计算所述第二测量值和所述第二基准值的比值，得到第二方向的校正系数；

计算所述第三测量值和所述第三基准值的比值，得到第三方向的校正系数；

其中，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向两两垂直。

10.根据权利要求9所述的三维位移校正系数测量方法，其特征在于，所述计算所述标定棒伸出所述立板的实际距离，得到第三基准值步骤包括：通过所述光学测量仪分别测量三个所述标定棒伸出所述立板的距离，得到三个所述第三测量值；

所述计算所述标定棒伸出所述立板的实际距离，得到第三基准值步骤包括：分别计算三个所述标定棒伸出所述立板的长度，得到三个所述第三基准值；

所述计算所述第三测量值和所述第三基准值的比值，得到第三方向的校正系数步骤包括：计算相对应的所述第三测量值和所述第三基准值的比值，得到三个校正系数初值，计算三个所述校正系数初值的平均值，得到所述第三方向的校正系数。