[发明专利]放射线成像系统及其方法、放射线成像装置和存储介质有效
| 申请号: | 201811431703.4 | 申请日: | 2018-11-28 |
| 公开(公告)号: | CN109833052B | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
| 发明(设计)人: | 彦坂爱美 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 北京怡丰知识产权代理有限公司 11293 | 代理人: | 迟军;李艳丽 |
| 地址: | 日本国东京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 放射线 成像 系统 及其 方法 装置 存储 介质 | ||
本发明公开了放射线成像系统及其方法、放射线成像装置和存储介质。放射线成像系统包括被配置为执行放射线成像的多个放射线成像装置。放射线成像装置包括:方案存储单元,其被配置为存储成像方案,成像方案包括用于控制放射线成像的特性信息;关联单元,其被配置为将另一放射线成像装置的另一成像方案的特性信息与存储的成像方案的特性信息关联;以及控制单元,其被配置为基于关联来控制方案存储单元中另一成像方案的特性信息的登记。
技术领域
本发明涉及通过使用放射线来执行成像的放射线成像系统、放射线成像方法、放射线成像装置和存储介质。
背景技术
在医学领域中执行的放射线成像中,成像是基于成像方案(protocol)执行的,该成像方案包括与对于成像所需要的成像部位、成像台、图像处理、成像条件等中的至少一个有关的信息。
在日本专利公开No.2016-22096中,提出了以下技术:在该技术中,在安装在多个成像室中的放射线成像装置中设置的成像方案在放射线成像装置之间共享,并且要被共享的成像方案用于执行被检者的成像。
然而,如果成像方案被一致地共享,则要在成像中被使用的传感器的诸如校准信息的传感器特性也将被共享,并且这可能导致获得意外的图像的状态,因为执行了不适合于要被用于成像的传感器的校正处理。
因此,考虑到上述有关的技术,本发明提供了可以基于存储的成像方案的特性信息和另一放射线成像装置的另一成像方案的特性信息之间的关联、在执行成像方案共享的多个放射线成像装置之间控制登记的放射线成像技术。
发明内容
根据本发明的一个方面,提供了一种放射线成像系统,所述放射线成像系统包括被配置为执行放射线成像的多个放射线成像装置,其中,放射线成像装置包括方案存储单元,所述方案存储单元被配置为存储成像方案,所述成像方案包括用于控制放射线成像的特性信息;关联单元,所述关联单元被配置为将另一放射线成像装置的另一成像方案的特性信息与存储的成像方案的特性信息关联;以及控制单元,所述控制单元被配置为基于所述关联来控制所述方案存储单元中所述另一成像方案的特性信息的登记。
根据本发明的另一方面,提供了一种放射线成像系统的放射线成像方法,所述放射线成像系统包括多个放射线成像装置,每个放射线成像装置包括被配置为存储成像方案的方案存储单元,所述成像方案包括用于控制放射线成像的特性信息,所述方法包括:将另一放射线成像装置的另一成像方案的特性信息与存储的成像方案的特性信息关联;以及基于所述关联来控制所述方案存储单元中所述另一成像方案的特性信息的登记。
根据本发明的还另一方面,提供了一种执行被检者的放射线成像的放射线成像装置,包括:方案存储单元,所述方案存储单元被配置为存储成像方案,所述成像方案包括用于控制放射线成像的特性信息;关联单元,所述关联单元被配置为将另一放射线成像装置的另一成像方案的特性信息与存储的成像方案的特性信息关联;以及控制单元,所述控制单元被配置为基于所述关联来控制所述方案存储单元中所述另一成像方案的特性信息的登记。
根据本发明,可以基于存储的成像方案的特性信息和另一放射线成像装置的另一成像方案的特性信息之间的关联、在执行成像方案共享的多个放射线成像装置之间控制登记。
从以下参照附图对示例性实施例的描述,本发明的进一步的特征将变得清楚。
附图说明
图1是示出根据第一实施例的放射线成像系统的系统布置的框图;
图2是示出放射线成像系统的功能布置的框图;
图3是示出成像方案和成像方案信息组的示例的框图;
图4是用于解释输出侧放射线成像装置的方案输出单元将方案信息组存储在数据存储单元中的处理过程的流程图;
图5是用于解释读取侧放射线成像装置的控制单元202e将方案信息组存储在方案存储单元中的处理过程的流程图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社,未经佳能株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811431703.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:X射线曝光控制系统及其控制方法
- 下一篇:CT形状过滤器缺陷的双能矫正方法





