[发明专利]基于图像识别的二维微位移测量系统及检测方法有效
| 申请号: | 201811423996.1 | 申请日: | 2018-11-27 |
| 公开(公告)号: | CN109539997B | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
| 发明(设计)人: | 缪东晶;张帅;李建双;李婷;郑继辉;李连福;赫明钊;蒋远林;康瑶 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 赵永辉 |
| 地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 图像 识别 二维 位移 测量 系统 检测 方法 | ||
1.一种基于图像识别的二维微位移测量系统,其特征在于,包括:
第一底座(10),设置有第一孔位(110);
第二底座(20),设置有多个支撑座(210),所述多个支撑座(210)设置于所述第一底座(10)表面,且所述第二底座(20)设置有第二孔位(220),所述第二孔位(220)与所述第一孔位(110)相对设置;
环形光源(30),设置于所述第一底座(10)与所述第二底座(20)之间,可拆卸安装于所述第一底座(10),且所述环形光源(30)与所述第一孔位(110)同心设置;
变焦镜头(410),可拆卸安装于所述第二底座(20),且通过所述第二孔位(220)与所述环形光源(30)相对,所述环形光源(30)卡扣于所述变焦镜头(410);
拍摄装置(40),安装于远离所述环形光源(30)的所述变焦镜头(410)一端;
标定模片(50),设置于被测物体,所述标定模片(50)表面设置有至少一个标记(510),且所述标定模片(50)与所述第一孔位(110)相对,用以使得所述拍摄装置(40)通过所述变焦镜头(410)与所述环形光源(30)对所述被测物体进行测量;
所述标定模片(50)包括四个直径不同的圆形轮廓标记(510),且每两个所述标记(510)的圆心设置在同一条直线;
支撑架(60),设置于远离所述第一底座(10)的所述第二底座(20)表面;
处理器(70),设置于所述支撑架(60),且所述拍摄装置(40)与所述处理器(70)的通讯接口电连接;
无线通信模块(80),设置于所述支撑架(60),所述处理器(70)与所述无线通信模块(80)的通讯接口电连接,且所述无线通信模块(80)与客户端通过无线通信方式连接;
供电装置(90),设置于远离所述第一底座(10)的所述第二底座(20)表面,且所述供电装置(90)与所述环形光源(30)电连接,所述供电装置(90)与所述拍摄装置(40)电连接,所述供电装置(90)与所述处理器(70)电连接,所述供电装置(90)与所述无线通信模块(80)电连接;
其中,提供一个激光干涉仪,并将所述标定模片(50)移动至所述拍摄装置(40)的拍摄范围内,将所述激光干涉仪复位;所述标定模片(50)包括四个尺寸不同的圆形,且每两个圆形的圆心在一条直线上;
根据所述拍摄装置(40)采集所述标定模片(50)的移动前图像,并根据所述处理器(70)将所述移动前图像进行图像处理,获取所述标记(510)的移动前中心点坐标像素(xj,yj),其中j=0,1,2,3,…n;
在所述拍摄装置(40)拍摄范围内移动所述标定模片(50),并获取所述激光干涉仪的数值,获取所述标定模片(50)移动的微位移量大小ΔD;
根据所述拍摄装置(40)采集所述标定模片(50)的移动后图像,并根据所述处理器(70)将所述移动后图像进行图像处理,获取所述标记(510)的移动后中心点坐标像素,其中j=0,1,2,3,…n;
根据所述移动前中心点坐标像素(xj,yj)与所述移动后中心点坐标像素,计算中心点坐标像素变化量;
根据所述微位移量大小ΔD与所述中心点坐标像素变化量ΔP,获得标定系数;
获取所述标定模片(50)的标定系数,并将所述标定模片(50)固定于被测物体,以所述标定模片(50)构建坐标系;
根据所述拍摄装置(40)采集所述标定模片(50)的第一图像;
根据所述处理器(70)将所述第一图像进行图像处理,获取所述标记(510)的第一中心点坐标像素(xi,yi),其中i=0,1,2,3,…n;
移动所述被测物体,并根据所述拍摄装置(40)采集移动后的所述标定模片(50)的第二图像;
根据所述处理器(70)将所述第二图像进行图像处理,获取移动后的所述标记(510)的第二中心点坐标像素(x’i,y’i),其中i=0,1,2,3,…n;
根据所述第一中心点坐标像素(xi,yi)与所述第二中心点坐标像素(x’i,y’i)计算所述被测物体移动前后的所述标记(510)的中心点坐标像素变化量ΔP;
根据所述中心点坐标像素变化量ΔP与所述标定系数,获取所述被测物体发生的微位移量,其中,所述微位移量的大小为ΔD=Δp×α,所述微位移量的方向角,其中i=0,1,2,3,…n。
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