[发明专利]一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法在审
申请号: | 201811420830.4 | 申请日: | 2018-11-27 |
公开(公告)号: | CN109342505A | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 林俊明 | 申请(专利权)人: | 爱德森(厦门)电子有限公司 |
主分类号: | G01N27/00 | 分类号: | G01N27/00;G01V3/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361008 福建省厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 体内金属 封闭壳 电磁场分布 封闭壳体 无损测定 外部 电磁脉冲串 接收传感器 标准部件 电磁信息 封闭部件 高灵敏度 金属成份 径向扫描 快速定位 主动激励 脉冲 宽频 测量 重建 | ||
本发明公开了一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法,采用不同脉冲宽度的电磁脉冲串激励及宽频高灵敏度接收传感器,对被检封闭壳体部件外部进行周向及径向扫描,获取主动激励/接收的电磁信息,重建被检封闭部件外部的电磁场分布,与标准部件外部测得的电磁场分布进行比较,从而得到被检封闭壳体部件内金属成份及位置的变化情况,实现封闭壳体内金属成份及位置的精确测量、快速定位。
技术领域
本发明涉及一种无损检测方法,特别是涉及一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法。
背景技术
运载火箭一般是在总装厂进行水平组装及测试后,通过运输车水平运送到发射场,然后经过复杂的起竖过程,将其安装到发射台进行发射。然而水平组装测试完好的运载火箭内部的金属部件很可能在水平运送或在起竖过程中出现松动、移位甚至脱落或被掉包等不易察觉的问题,从而造成火箭发射失败,严重时还会导致火箭发射爆炸的重大事故。
目前,针对于运载火箭携带的金属部件等一些特殊用途的封闭部件内部工件金属成份及所处位置是否移动的测定方法研究较少,可实现封闭壳体内金属成份及位置的精确测量、快速定位的无损检测方法尚不多见。
发明内容
本发明的目的在于通过一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法,来解决以上背景技术部分提到的问题。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法,其特征在于:
采用放置式激励线圈与接收传感器围绕被检封闭壳体部件外部环形扫查,被检封闭壳体部件沿着扫查中轴线移动的方式;或者,采用外穿式激励线圈及沿着被检封闭壳体部件外部周向阵列分布的接收传感器,被检封闭壳体部件沿着外穿式激励线圈中轴线移动的方式;
采用不同脉冲宽度的电磁脉冲串激励、采用宽频高灵敏度接收传感器接收的方法,对被检封闭壳体部件外部进行周向及径向扫描,获取其电磁感应信号,重建封闭壳体外部的电磁场分布,与标准封闭壳体部件外部测得的电磁场分布进行比较,从而得出被检封闭壳体部件内部不同电导率金属材料组成的工件的金属成份及位置相对于标准封闭壳体部件的变化情况。
本发明的有益效果是,一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法,采用不同脉冲宽度的电磁脉冲串激励及宽频高灵敏度接收传感器,对被检封闭壳体部件外部进行周向及径向扫描,获取主动激励/接收的电磁信息,重建被检封闭部件外部的电磁场分布,与标准部件外部测得的电磁场分布进行比较,从而得到被检封闭壳体部件内金属成份及位置的变化情况,实现封闭壳体内金属成份及位置的精确测量、快速定位。
以下结合实施例对本发明作进一步详细说明,但本发明的一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法不局限于实施例。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1为本发明实施例一的测定方法三维示意图。
图2为本发明实施例一的测定方法平面示意图。
图3为本发明实施例二的测定方法三维示意图。
图4为本发明实施例二的测定方法平面示意图。
图中,1-1.放置式激励线圈,1-2.外穿式激励线圈,2.接收传感器,3.被检封闭壳体部件,4. 不同电导率金属材料组成的工件。
具体实施方式
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