[发明专利]一种调试振镜同轴心用调光筒及调试方法

说明书

本发明公开了一种调试振镜同轴心用调光筒，包括调光连接盖、调光接筒、调光接头，并相互连接；调光连接盖上设有外螺纹结构，中心凸台及法兰盖；调光接筒为细长圆筒形，内部设有导光通孔；调光接头设有调光小孔；外螺纹结构与调光小孔的圆心为同轴心设置。调试方法的步骤在于：a.场镜头取下；b.将调光连接盖的外螺纹结构旋进场镜头的标准内螺纹上；c.在调光接头的正下方放置一张倍频片，将激光形成可观察的绿光；d.打开光路系统开关；e.激光在倍频片上投射成绿色的圆环带；f.观察圆环带内圈与外圈的同轴心度，微调振镜安装部件的左右及前后水平位置；g.重设参数再次调整。本发明结构简单，调试方法简单易操作；具有较好的实用效果。

技术领域

本发明涉及一种调试激光设备上振镜同轴心用的调试辅助工具，特别是涉及一种调试振镜同轴心用调光筒及调试方法。

背景技术

目前，在激光加工设备中，光路系统的激光路线往往经过多个部件，中间部件的安装位置会直接影响光路的同轴心度。为了保证激光最后通过振镜能够垂直作用于被加工工件表面，需要在装配振镜安装部件时，确定其与激光路线的同轴心度。目前，在装配振镜安装部件时，一般都会出现左右方向或者前后方向的高度偏差，但没有可参照的基准，装配后无法确定安装位置是否达到其理想的水平位置。而且，振镜头往往离被加工工件的吸附平台表面的距离较大。现急需一个辅助的安装调试工具，提供调整的参考基准，并提供一种简单快捷的调试方法。

发明内容

发明目的：针对上述现有存在的问题和不足，本发明的目的是提供一种结构简单、调试便捷的调试振镜同轴心用调光筒及调试方法。

技术方案：为实现上述发明目的，本发明采用的技术方案为：

一种调试振镜同轴心用调光筒，其特征在于：包括调光连接盖、调光接筒、调光接头，所述调光连接盖上设有与场镜头配合连接的外螺纹结构，中心有中心凸台，通过法兰盖连接为一体；所述调光接筒为细长圆筒形，内部设有导光通孔，并与调光连接盖相连接；所述调光接头设有调光小孔，并连接在调光接筒的下端；所述外螺纹结构与调光小孔的圆心为同轴心设置。

具体连接方式上，优化的，在中心凸台的内部设有与外螺纹结构同轴心的内螺纹，相应的，所述调光接筒的上端设有外螺纹，并与调光连接盖通过螺纹副连接在一起；同样的，在所述调光接筒的下端内设有与上端外螺纹同轴心的内螺纹，相应的，调光接头的上端设有外螺纹，并与调光接筒（2）通过螺纹副连接在一起。

优化的，所述调光接筒的长度设置为150-200mm，并在中间位置上开设有不少于两个的开口槽。

进一步的优化结构，所述调光接筒与调光连接盖固定连接成一体结构；在所述调光接筒的下端内设有同轴心的内螺纹，相应的，所述调光接头的上端设有外螺纹，并与调光接筒通过螺纹副连接在一起。

进一步的优化结构，所述调光接头与调光接筒固定连接成一体结构；在所述调光接筒的上端设有同轴心的外螺纹，相应的，中心凸台）的内部设有与外螺纹结构同轴心的内螺纹，并与调光接筒通过螺纹副连接在一起。

进一步的优化结构，所述调光连接盖、调光接筒、调光接头固定连接成整个一体结构。

一种调试振镜同轴心用调光筒的调试方法，其步骤在于：

a.将设备上的F-θ场镜头取下；

b.将调光连接盖的外螺纹结构旋进场镜头的标准内螺纹上；

c.在调光接头的正下方放置一张倍频片，作用是可将肉眼无法观察的1064纳秒激光频率加倍、波长减半，形成可观察的绿光；

d.在计算机控制器上设置一个刻蚀的合适尺寸的圆形图案，圆形直径尺寸可设置在12-18mm范围内，然后打开光路系统开关；

e.激光通过导光通孔、再通过调光小孔在倍频片上投射成绿色的圆环带；