[发明专利]寿命评估方法及装置

说明书

本申请涉及一种寿命评估方法及装置；其中，寿命评估方法，包括：获取待测器件在极限工作温度下的第一失效率，以及在预设温度下的第二失效率；对第一失效率与第二失效率进行处理，得到加速因子；获取待测器件在极限工作温度下的第一寿命值；对加速因子与第一寿命值进行处理，得到待测器件在预设温度下的第二寿命值。本申请通过基于第一失效率以及第二失效率得到加速因子，缩短了加速因子的获取时间，并根据加速因子以及在极限工作温度下的寿命值，得到在预设温度下的寿命值，从而实现对待测器件进行寿命评估，避免在试验时，由于试验时间过长导致评估时间过长的问题，缩短了寿命评估时间，实现在较短时间内完成寿命评估。

技术领域

本申请涉及寿命评估技术领域，特别是涉及一种寿命评估方法及装置。

背景技术

随着制造技术的发展，材料和生产工艺的升级，不可修复元件，如IC(IntegratedCircuit，集成电路)、陶瓷类电容、薄膜电阻等器件的寿命变得很长，预测产品的寿命能够使相关产品更好的发挥其既有性能，对产品应用的可靠性以及维修的准确性起到至关重要的作用。

在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：目前的寿命评估方法，存在评估时间过长的问题。

发明内容

基于此，有必要针对传统寿命评估方法评估时间过长的问题，提供一种能够在较短时间内进行寿命评估的寿命评估方法及装置。

为了实现上述目的，一方面，本申请实施例提供了一种寿命评估方法，包括：

获取待测器件在极限工作温度下的第一失效率，以及在预设温度下的第二失效率；

对所述第一失效率与所述第二失效率进行处理，得到加速因子；

获取所述待测器件在所述极限工作温度下的第一寿命值；

对所述加速因子与所述第一寿命值进行处理，得到所述待测器件在所述预设温度下的第二寿命值。

在其中一个实施例中，获取待测器件的极限工作温度对应的第一失效率，以及预设温度对应的第二失效率之前还包括步骤：

通过HALT试验获取所述极限工作温度。

在其中一个实施例中，通过HALT试验获取所述极限工作温度的步骤包括：

获取待测器件在预设测试条件下第一性能参数，并记录根据第一性能参数确认的待测器件发生损坏时的测试温度；预设测试条件为以预设温度为起始温度，以预设步进温度值、逐步增加测试温度；

获取预留器件在测试温度下的第二性能参数，根据第二性能参数确认预留器件处于正常工作状态时，将测试温度确定为极限工作温度；预留器件与待测器件为同型号同批次的器件。

在其中一个实施例中，获取所述待测器件在所述极限工作温度下的第一寿命值的步骤包括：

获取预设数量的各所述待测器件在所述极限工作温度下的失效时间；

将各所述待测器件的失效时间的平均值确认为所述第一寿命值。

在其中一个实施例中，对所述第一失效率与第二失效率进行处理，得到加速因子的步骤包括：

将所述第一失效率的倒数确认为所述待测器件在所述极限工作温度下的第一平均失效前时间；

将所述第二失效率的倒数确认为所述待测器件在所述预设温度下的第二平均失效前时间；

根据所述第一平均失效前时间以及第二平均失效前时间，基于以下公式，得到所述加速因子：

其中，A为加速因子；MTTF_u为所述第二平均失效前时间；MTTF_T为所述第一平均失效前时间。