[发明专利]低电压检测电路与包括该低电压检测电路的存储器装置

说明书

低电压检测电路与包括该低电压检测电路的存储器装置。在具有改进的检测性能的低电压检测电路中，低电压检测电路包括：比较电压发生器，其用于通过对电源电压进行分压而生成第一比较电压和第二比较电压，第二比较电压的电平高于第一比较电压的电平；第一比较器，其用于通过比较第一比较电压和参考电压而输出低电压检测使能信号；第二比较器，其用于在低电压检测使能信号正在被输入的同时通过比较第二比较电压和参考电压而输出检测信号；检测信号保持器，其用于根据检测信号而向输出端子提供低电压检测信号；以及输出信号放电器，其用于根据低电压检测使能信号来对低电压检测信号进行放电。

技术领域

本公开的各个实施方式总体上涉及一种电子装置。具体地，这些实施方式涉及低电压检测电路和包括该低电压检测电路的存储器装置。

背景技术

存储装置在例如计算机、智能电话或平板PC之类的主机装置的控制下存储数据。存储装置可以包括用于存储数据的存储器装置和用于控制存储器装置的存储器控制器。存储器装置可以是易失性存储器装置或非易失性存储器装置。

在易失性存储器装置中，当电源中断供电时，存储的数据不会保留。易失性存储器的示例为静态随机存储器(SRAM)、动态RAM(DRAM)和同步DRAM(SDRAM)等。

在非易失性存储器装置中，即使当电源中断供电时，存储的数据也会得到保留。非易失性存储器的示例为只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)、闪存存储器、相变RAM(PRAM)、磁RAM(MRAM)、电阻式RAM(RRAM)和铁电RAM(FRAM)等。非易失性存储器装置可以包括用于感测由外部电源输入的电源电压的压降的低电压检测电路。

发明内容

实施方式提供一种具有更加精确的检测性能的低电压检测电路以及包括该低电压检测电路的存储器装置。

根据本公开的一个方面，提供一种低电压检测电路，其包括：比较电压发生器，其被配置为通过对电源电压进行分压而生成第一比较电压和第二比较电压，第二比较电压的电平高于所述第一比较电压的电平；第一比较器，其被配置为通过比较第一比较电压和参考电压而输出低电压检测使能信号；第二比较器，其被配置为在低电压检测使能信号正在被输入的同时，通过比较第二比较电压和参考电压而输出检测信号；检测信号保持器，其被配置为根据检测信号来向输出端子提供低电压检测信号；以及输出信号放电器，其被配置为根据低电压检测使能信号来对低电压检测信号进行放电。

根据本公开的另一方面，提供了一种存储器装置，其包括：存储器单元阵列，其包括多个存储器单元；电压发生器，其被配置为生成要供应至所述多个存储器单元的操作电压；以及控制逻辑，其被配置为将操作电压提供至所述多个存储器单元，或者将所提供的操作电压放电，其中，所述电压发生器还包括低电压检测电路，所述低电压检测电路被配置为当从外部输入的电源电压对应于低电压状态时，将低电压检测信号输出至控制逻辑，其中，所述低电压检测电路包括：比较电压发生器，其被配置为通过对电源电压进行分压而生成第一比较电压和第二比较电压，所述第二比较电压的电平高于所述第一比较电压的电平；第一比较器，其被配置为通过比较第一比较电压和参考电压而输出低电压检测使能信号；第二比较器，其被配置为在低电压检测使能信号正在输入的情况下，通过比较第二比较电压和参考电压而输出检测信号；检测信号保持器，其被配置为根据检测信号而将低电压检测信号提供至输出端子；以及输出信号放电器，其被配置为根据低电压检测使能信号来对低电压检测信号进行放电。

根据本公开的又一方面，提供了一种存储器装置，其包括：存储器单元阵列；低电压检测器，其被配置为在第一比较电压低于参考电压的同时，当第二比较电压变为低于参考电压时或者当第二比较电压随后变为高于参考电压时，生成检测信号；以及控制逻辑，其被配置为根据检测信号对到存储器单元阵列的操作电压进行放电，其中，第一比较电压和第二比较电压是从电源电压分压得到的，并且其中，第一比较电压低于第二比较电压。

附图说明