[发明专利]磁共振系统和在其中生成检查对象的磁共振图像的方法有效

专利信息
申请号: 201811389486.7 申请日: 2018-11-21
公开(公告)号: CN109814058B 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: D.波拉克;Y.M.L.蔡;E.雷瑟尔 申请(专利权)人: 西门子保健有限责任公司
主分类号: G01R33/54 分类号: G01R33/54;A61B5/055
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张贵东
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磁共振 系统 其中 生成 检查 对象 图像 方法
【权利要求书】:

1.一种用于在MR系统(1)中生成检查对象(2)的MR图像的方法,所述MR系统包括至少两个接收线圈(3),该方法包括:

- 施加RF脉冲序列,以在检查对象(2)中生成受激回波信号;

- 与受激回波信号并发地施加梯度磁场,使得在k-空间中生成不是恒定线的轨迹;

- 在所述受激回波信号期间,使用至少两个接收线圈(3)检测欠采样MR测量数据;以及

- 使用至少两个接收线圈(3)的灵敏度信息从所述欠采样MR测量数据生成完全采样的MR测量数据,用于生成检测对象(2)的MR图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述梯度磁场是在至少一个空间方向上的波动梯度磁场。

3.根据权利要求1所述的方法,还包括:

- 调整第一波动参数,其限定第一梯度磁场在第一空间方向上的波动,其中使第一空间方向上的波动的幅度最小化和/或第一空间方向上的波动的周期最小化。

4.根据权利要求3所述的方法,还包括:

- 调整第二波动参数,其限定第二梯度磁场在不同于第一空间方向的第二空间方向上的波动,其中使第二空间方向上的波动的幅度最大化和/或第二空间方向上的波动的周期最大化。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述欠采样MR测量数据至少部分地不在所述k-空间中心的第一侧上采样,所述方法还包括:

- 将k-空间滤波器应用于欠采样MR测量数据。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述欠采样MR测量数据至少部分地不在所述k-空间中心的第一侧上被采样,其中,所述欠采样MR测量数据在k-空间的中心区域中被完全采样,该方法还包括:

- 使用来自k-空间的中心区域的完全采样的MR测量数据,利用局部傅立叶技术对欠采样MR测量数据执行相位校正。

7.根据权利要求6所述的方法,其中,执行相位校正包括:

- 将梯度场的点扩展函数(PSF)应用于k-空间的中心区域以生成较低分辨率的MR图像;以及

- 使用较低分辨率的MR图像,利用局部傅立叶技术执行相位校正。

8.根据权利要求7所述的方法,其中,将点扩展函数(PSF)应用于来自k-空间的中心区域的完全采样的MR测量数据包括:

- 从来自k-空间的中心区域的所述完全采样的MR测量数据重建MR图像,以及

- 利用梯度场的点扩展函数对所述MR图像进行卷积,以生成较低分辨率的MR图像。

9.根据权利要求7所述的方法,其中,所述点扩展函数由数据驱动的梯度校准确定,包括:

- 基本上用零填充欠采样MR测量数据的未确定部分;以及

- 基于填充的欠采样MR测量数据执行数据驱动的梯度校准,以确定点扩展函数。

10.根据权利要求1至9之一所述的方法,其中,所述方法是3D快速自旋回波(TSE)技术。

11.根据权利要求1至9之一所述的方法,其中,所述RF脉冲包括激发、重聚焦和存储/调用脉冲。

12.根据权利要求1至9之一所述的方法,其中,所述RF脉冲引起变化的翻转角。

13.根据权利要求1至9之一所述的方法,其中,对应于由RF脉冲引起的变化的翻转角,对用于检测欠采样MR测量数据的k-空间测量点的序列进行排序。

14.根据权利要求1至9之一所述的方法,其中针对各向同性测量分辨率调整所述方法。

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