[发明专利]基于高温通电的可靠性测试装置

说明书

本发明公开了一种基于高温通电的可靠性测试装置，所述装置包括电路板、封装于电路板上的若干TO管座和开关器件、以及与电路板相连的电源，所述电源用于提供可靠性试验的电压和/或电流，所述TO管座并联连接于电源上，开关器件连接于TO管座和电源之间，开关器件和TO管座一一对应设置，每个开关器件用于控制对应的TO管座的通断。本发明能够实现基于高温通电的可靠性测试，通过各个开关器件控制各个TO管座的通断，从而进行光电探测器的可靠性测试。

技术领域

本发明涉及光半导体器件测试技术领域，特别是涉及一种基于高温通电的可靠性测试装置。

背景技术

光电器件由于噪声的存在会使其输出信号失真，影响后续系统测量与应用。然而由于其寿命较长稳定性较高，无法在短时间内得到其噪声的长期演化规律，或者受使用环境限制无法去测量噪声，这就需要用到加速老化实验去利用实验室环境来人工模拟光电器件长时间使用过程、或极端外界环境，从而得到噪声的变化情况。

传统的测试过程中无法监测TO管座的良率，只能在测试结束后逐个进行测试，得到的测试结果均为右删失值，无法准确捕捉TO的失效时间，会造成可靠性试验结果的误差。另外，将光电探测器拔下至另一块电路板进行测试，拔插过程中容易对器件造成静电损伤(ESD)和其他物理损伤。

因此，针对上述技术问题，有必要提供一种基于高温通电的可靠性测试装置。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种基于高温通电的可靠性测试装置。

为了实现上述目的，本发明一实施例提供的技术方案如下：

一种基于高温通电的可靠性测试装置，所述装置包括电路板、封装于电路板上的若干TO管座和开关器件、以及与电路板相连的电源，所述电源用于提供可靠性试验的电压和/或电流，所述TO管座并联连接于电源上，开关器件连接于TO管座和电源之间，开关器件和TO管座一一对应设置，每个开关器件用于控制对应的TO管座的通断。

作为本发明的进一步改进，所述TO管座和开关器件封装于同一个电路板上，TO管座和开关器件通过电路板上的线路层电性连接。

作为本发明的进一步改进，所述TO管座封装于第一电路板上，开关器件封装于第二电路板上，TO管座和开关器件通过第一电路板和第二电路板上的线路层电性连接。

作为本发明的进一步改进，所述TO管座包括与电源正极相连的第一管脚、以及与电源负极相连的第二管脚。

作为本发明的进一步改进，所述TO管座为基于TO-46标准的四脚插座。

作为本发明的进一步改进，所述开关器件连接于TO管座的第一管脚、第二管脚和电源正极、负极之间。

作为本发明的进一步改进，所述开关器件为六脚自锁开关。

作为本发明的进一步改进，所述电路板、TO管座及开关器件采用耐高温材料制备得到。

本发明的有益效果是：

本发明能够实现基于高温通电的可靠性测试，通过各个开关器件控制各个TO管座的通断，从而进行光电探测器的可靠性测试；

短时间断电过程不会对光电探测器造成伤害，也不会对可靠性试验产生误差，提高了测试准确性；

无需进行光电探测器的插拔，避免了光电探测器的的静电损伤和其他物理损伤。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。