[发明专利]一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法有效
申请号: | 201811377326.0 | 申请日: | 2018-11-19 |
公开(公告)号: | CN109540326B | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 张治国;李磊朋;秦峰 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01K11/00 | 分类号: | G01K11/00 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 岳泉清 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 波长 光源 荧光 强度 测温 方法 | ||
1.一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法,其特征在于基于双波长光源的荧光强度比测温方法是按以下步骤进行:(1)制备CaWO4:Tb3+温度敏感材料,并将该材料放置到加热台上,以150W的氙灯作为激发光源,利用光栅光谱仪作为分光仪器;(2)加热台在303K到783K温度区间进行加热,每个标定温度的温度间隔为40K,然后利用经过分光的氙灯中心波长为310nm的光源对样品进行照射,记录稀土Tb3+离子发射绿色荧光的强度,记为荧光强度A;再利用经过分光的氙灯中心波长为378nm的光源对样品进行照射,记录稀土Tb3+离子发射绿色荧光的强度,记为荧光强度B,得到荧光强度A与荧光强度B的比值;(3)每个标定温度处均得到一个荧光强度比值,处理后获得拟合曲线,根据拟合曲线得到荧光强度和标定温度之间的对应函数关系R=0.01*exp(T/143)-0.07,其中R就是在中心波长分别为310nm和378nm光源的激发下稀土Tb3+离子发射绿色荧光的强度比值,T是绝对温度;(4)将CaWO4:Tb3+温度敏感材料放置于待测环境,然后将CaWO4:Tb3+温度敏感材料在中心波长分别为310nm和378nm光源的激发下稀土Tb3+离子发射绿色荧光的强度比值代入上述函数,即得到待测环境的温度,完成基于双波长光源的荧光强度比测温方法。
2.根据权利要求1所述的一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法,其特征在于步骤(1)中CaWO4:Tb3+温度敏感材料的制备方法为高温固相法,煅烧温度为1150℃,保温时间为6个小时。
3.根据权利要求1所述的一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法,其特征在于步骤(1)中所制备的CaWO4:Tb3+温度敏感材料中Tb3+的摩尔百分比为5%。
4.根据权利要求1所述的一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法,其特征在于步骤(2)中加热台在每个标定温度处停留2min。
5.根据权利要求1所述的一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法,其特征在于步骤(3)中利用最小二乘法原理获得拟合曲线。
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