[发明专利]一种在磁场调控下测量功能表面滚动角的实验装置

权利要求书

1.一种在磁场调控下测量功能表面滚动角的实验装置，其特征在于，包括：支架组件、直柄滑块组件、旋转组件及磁铁组件；

所述支架组件用于提供所述实验装置的安装平台，为直柄滑块组件、旋转组件、旋转驱动组件及磁铁组件提供安装基座；

所述磁铁组件用于给试验件提供均匀或非均匀的磁场；

所述旋转组件用于安装试验件及带动试验件和磁铁组件在水平面的偏转运动，以测量试验件在水平面的偏转运动方向的滚动角，且所述旋转组件能够驱动所述试验件和磁铁组件同时转动或单独驱动试验件或磁铁组件转动；

所述直柄滑块组件用于带动试验件在水平面的俯仰运动，以测量试验件在水平面的俯仰方向的滚动角。

2.如权利要求1所述的一种在磁场调控下测量功能表面滚动角的实验装置，其特征在于，所述支架组件包括：底座(1)、支架座(39)、支撑块(37)、左支架(54)、右支架(58)、长立杆(26)及短立杆(51)；

所述支架座(39)放置于固定在底座(1)上的支撑块(37)上，左支架(54)和右支架(58)沿竖直方向平行固定在支架座(39)上表面左右两端；长立杆(26)的底端固定在底座(1)上，短立杆(51)的底端固定在支架座(39)上，长立杆(26)的顶端与短立杆(51)的顶端通过销轴销接。

3.如权利要求2所述的一种在磁场调控下测量功能表面滚动角的实验装置，其特征在于，所述直柄滑块组件包括：滑块(8)、滑道(10)、第一丝杠(12)、丝杠驱动机构(33)、驱动块(13)、方块(15)、第一直销(20)、圆头直柄(21)、U型块(23)及第二直销(24)；

所述滑道(10)固定在底座(1)上，滑块(8)套在滑道(10)上，与滑道(10)滑动配合，可沿滑道(10)的长度方向运动；驱动块(13)固定在滑块(8)上；方块(15)固定在滑道(10)的末端；第一丝杠(12)的一端穿过驱动块(13)后，与安装在底座(1)上的丝杠驱动机构(33)连接，丝杠驱动机构(33)用于驱动第一丝杠(12)转动；且第一丝杠(12)与驱动块(13)中心孔的内螺纹螺纹配合，第一丝杠(12)的另一端通过轴承安装在方块(15)内；所述驱动块(13)的顶面加工有半圆槽(19)；圆头直柄(21)的一端通过第一直销(20)安装在半圆槽(19)内，另一端通过第二直销(24)与倒置的U型块(23)的两个竖直部分销接；U型块(23)的水平部分上表面与支架座(39)的下表面固定连接。

4.如权利要求2所述的一种在磁场调控下测量功能表面滚动角的实验装置，其特征在于，所述旋转组件包括：内杆(70)、套筒(65)、凸形块(73)、第一螺杆(71)、第二螺杆(77)及第三螺杆(66)；

所述套筒(65)的两端分别通过轴承安装在左支架(54)和右支架(58)上，并分别伸出于左支架(54)和右支架(58)；内杆(70)通过轴承安装在套筒(65)内，且内杆(70)的两端分别伸出于套筒(65)的两端；其中，内杆(70)的左支架(54)所在端端部设有用于安装试验件的矩形槽(69)，试验件通过载玻片安装在内杆(70)的矩形槽(69)上；

所述凸形块(73)内分别加工有用于与套筒(65)及内杆(70)配合的阶梯孔，凸形块(73)穿过套筒(65)和内杆(70)的右支架(58)所在端端部后，固定在右支架(58)的环形凸台(59)上；

所述第一螺杆(71)穿过凸形块(73)及右支架(58)的环形凸台(59)的圆周面后，与套筒(65)的外圆周面相对，且第一螺杆(71)与右支架(58)的环形凸台(59)螺纹连接，当拧紧第一螺杆(71)时，第一螺杆(71)的末端抵触在套筒(65)的外圆周面上，将套筒(65)与凸形块(73)连接；

所述第二螺杆(77)穿过凸形块(73)的圆周面后，与伸出于套筒(65)端部的内杆(70)的外圆周面相对，且第二螺杆(77)与凸形块(73)螺纹连接，当拧紧第二螺杆(77)时，第二螺杆(77)的末端抵触在内杆(70)的外圆周面上，将内杆(70)与凸形块(73)连接；

所述第三螺杆(66)穿过套筒(65)的圆周面后，与套筒(65)内部的内杆(70)的外圆周面相对，且第三螺杆(66)与套筒(65)螺纹连接，当拧紧第三螺杆(66)时，第三螺杆(66)的末端抵触在内杆(70)的外圆周面上，将内杆(70)与套筒(65)连接。