[发明专利]一种基于光时域反射仪采样数据处理方法及装置在审
| 申请号： | 201811376258.6 | 申请日： | 2018-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN109462434A | 公开（公告）日： | 2019-03-12 |
| 发明（设计）人： | 刘云龙;王勇;王昕;马光元;李康 | 申请（专利权）人： | 北京信维科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/071 | 分类号： | H04B10/071 |
| 代理公司： | 北京华旭智信知识产权代理事务所(普通合伙) 11583 | 代理人： | 李丽 |
| 地址： | 100085 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储模块 融合数据 采样数据 光时域反射仪 采样 融合 采样数据处理 测量性能 数据处理 累加 数据发 信噪比 | ||
1.一种基于光时域反射仪采样数据处理方法，其特征在于，该方法包括：
FPGA模块获取第一采样数据；
第一存储模块的数据与所述第一采样数据在所述FPGA模块进行融合；
融合后的数据发送给第二存储模块获得第一融合数据；
所述FPGA模块获取第二采样数据并与所述第二存储模块的第一融合数据融合后获得第二融合数据；
将所述第二融合数据发送给所述第一存储模块。
2.如权利要求1所述的基于光时域反射仪采样数据处理方法，其特征在于：所述第一采样数据为第一帧的采样数据，所述第二采样数据为第二帧采样数据。
3.如权利要求2所述的基于光时域反射仪采样数据处理方法，其特征在于：如果采样的总帧数为偶数帧，则总帧数的采样叠加结果存于所述第一存储模块；如果采样的总帧数为奇数帧，则总帧数的采样叠加结果存于所述第二存储模块。
4.如权利要求1所述的基于光时域反射仪采样数据处理方法，其特征在于：所述第一采样数据和所述第二采样数据的存储过程中或者长读或者长写，不需要来回切换。
5.如权利要求1所述的基于光时域反射仪采样数据处理方法，其特征在于：所述第一存储模块的时钟频率只要和所述采样数据的采样时钟频率一样或者高于就正常工作。
6.一种基于光时域反射仪采样数据处理装置，其特征在于：
该装置包括：
采样模块，用于FPGA模块获取第一采样数据；
第一融合模块，用于第一存储模块的数据与所述第一采样数据在所述FPGA模块进行融合并且将融合后的数据发送给第二存储模块获得第一融合数据；
第二融合模块，所述FPGA模块获取第二采样数据并与所述第二存储模块的第一融合数据融合后获得第二融合数据；
发送模块，用于将所述第一融合数据或者第二融合数据发送给后期的处理及存储模块。
7.如权利要求6所述的基于光时域反射仪采样数据处理装置，其特征在于：所述第一采样数据为第一帧的采样数据，所述第二采样数据为第二帧采样数据。
8.如权利要求7所述的基于光时域反射仪采样数据处理装置，其特征在于：如果采样的总帧数为偶数帧，则总帧数的采样叠加结果存于所述第一存储模块；如果采样的总帧数为奇数帧，则总帧数的采样叠加结果存于所述第二存储模块。
9.如权利要求6所述的基于光时域反射仪采样数据处理装置，其特征在于：所述第一采样数据和所述第二采样数据的存储过程中或者长读或者长写，不需要来回切换。
10.如权利要求6所述的基于光时域反射仪采样数据处理装置，其特征在于：所述第一存储模块的时钟频率只要和所述采样数据的采样时钟频率一样或者高于就正常工作。
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