[发明专利]决定集成电路之电压及找出电压与电路参数之关系的方法有效
申请号: | 201811365095.1 | 申请日: | 2018-11-16 |
公开(公告)号: | CN111274751B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 陈英杰;余美俪;罗幼岚;林欣樟;高淑怡 | 申请(专利权)人: | 瑞昱半导体股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/3315 | 分类号: | G06F30/3315 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 梁丽超;田喜庆 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 决定 集成电路 电压 找出 电路 参数 关系 方法 | ||
本发明披露一种决定集成电路之电压及找出电压与电路参数之关系的方法。决定IC之电压的方法包含:依据电路设计进行一静态时序分析,以得到该电路设计之一关键路径的数据,再据以产生一网表;依据一标准电压及多个预设参数对网表执行电路参数模拟以及蒙特卡罗模拟,以分别得到电路参数参考值以及多个电路参数值的方差;依据预设电压范围执行适应性电压调整分析,以得到电压与电路参数关系,该电压与电路参数关系指出该预设电压范围内多个预设电压的每一个所关联的电路参数偏移达到了多少个方差;以及依据该标准电压测试IC,以得到该IC之电路参数测试值,并依据该电路参数测试值与该电路参数参考值之差以及该电压与电路参数关系,决定IC之供应电压。
技术领域
本发明是关于一种电压决定方法,尤其是关于一种决定集成电路之电压以及找出电压与电路参数之关系的方法。
背景技术
分析制程飘移对生产良率(production yield)/信号传输延迟之影响面临下列问题:
(1)在固定电压下,以不同的制程飘移值/模型(process variance/model)进行模拟时,信号传输延迟的偏移量常会造成集成电路的功能失效或无法通过验证。
(2)使用制程飘移值/模型来进行分析仅限于固定电压的分析,无法以适应性电压调整的方式来分析飘移值对信号传输延迟的影响。
(3)若针对电路之关键路径上的每种元件,使用所有制程飘移值/模型来进行特性描述(characterization),会非常耗时。
(4)使用特性描述参数库模型(characterization library model)之分析与关键路径电路模拟之间有0~5%左右的误差。
另有一种采用适应性电压调整的技术可见于下列文献:专利号US8884685之美国专利。上述技术需要特定电路,不易被广泛应用。
发明内容
本发明之一目的在于提供一种决定集成电路之电压以及找出电压与电路参数之关系的方法,以避免先前技术的问题。
本发明披露了一种决定集成电路之电压的方法,包含:依据一电路设计进行一静态时序分析,以得到该电路设计之一关键路径的数据,再依据该关键路径的该数据产生一网表;依据一标准电压及多个预设参数对该网表执行一电路参数模拟以及一蒙特卡罗模拟,以分别得到一电路参数参考值以及多个电路参数值的一方差;依据一预设电压范围执行一适应性电压调整分析,以得到一电压与电路参数关系,其中该电压与电路参数关系指出该预设电压范围内多个预设电压的每一个所关联的一电路参数偏移达到了多少个该方差;以及依据该标准电压测试一实体集成电路,以得到该实体集成电路之一电路参数测试值,并依据该电路参数测试值与该电路参数参考值之一测试参数差以及该电压与电路参数关系,决定该实体集成电路之一供应电压。
本发明另披露一种找出电压与电路参数之关系的方法,包含:依据一电路设计进行一静态时序分析,以得到该电路设计之一关键路径的数据,再依据该关键路径的该数据产生一网表;依据一标准电压及多个预设参数对该网表执行一电路参数模拟以及一蒙特卡罗模拟,以分别得到一电路参数参考值以及一方差;以及依据一预设电压范围执行一适应性电压调整分析,以得到一电压与电路参数关系,其中该电压与电路参数关系指出该预设电压范围内多个预设电压的每一个所关联的一电路参数偏移达到了多少个该方差。
有关本发明的特征、实施方式与功效,兹配合图式作较佳实施例详细说明如下。
附图说明
图1显示本发明之决定集成电路之电压的方法的一实施例;
图2显示图1所述之关键路径的一实施例;
图3显示图1所述之多个电路参数值的一实施例所构成的机率分布图;以及
图4显示图1所述之电压与电路参数关系的一实施例。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞昱半导体股份有限公司,未经瑞昱半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811365095.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。