[发明专利]逐次逼近式模拟数字转换器和其校正方法

说明书

本发明提供了一种逐次逼近式模拟数字转换器。此逐次逼近式模拟数字转换器包括模拟电路和数字控制电路。数字控制电路会耦接模拟电路。数字控制电路包括校正电路、存储器装置，以及非同步控制电路。校正电路可用以执行校正操作。存储器装置会耦接校正电路，以及储存校正电路执行校正操作产生的校正信息。非同步控制电路会耦接存储器装置，以及从存储器装置读取校正信息。当逐次逼近式模拟数字转换器藉由非同步控制电路进行操作前，非同步控制电路根据校正信息，消除逐次逼近式模拟数字转换器中的非理想效应。

技术领域

本发明说明书主要有关于一逐次逼近式模拟数字转换器的校正技术，特别是有关于整合一同步控制电路和一非同步控制电路于一逐次逼近式模拟数字转换器中的逐次逼近式模拟数字转换器的校正技术。

背景技术

在传统同步(Synchronous)式的逐次逼近式(Successive ApproximationRegister，SAR)模拟数字转换器(analog-to-digital converter，ADC)的电路设计时，在同步式的逐次逼近式模拟数字转换器正式运作前，可先进行校正(calibration)，以避免逐次逼近式模拟数字转换器本身的非理想效应所造成的误差。然而，随着对于逐次逼近式模拟数字转换器的应用上有高速(High speed)、高效能(High performance)，以及低功耗(lowpower)的需求，因此，发展出了非同步式(Asynchronous)的逐次逼近式模拟数字转换器。

然而，虽然非同步式的逐次逼近式模拟数字转换器具有上述优点，但其并无法进行校正，因而使得在使用非同步式的逐次逼近式模拟数字转换器时，正式运作时可能会因为非理想效应所造成的误差导致产品特性不好或者是量产良品率不佳的问题产生。

发明内容

有鉴于上述先前技术的问题，本发明提供了一逐次逼近式模拟数字转换器的校正技术，特别是有关于藉由整合一同步控制电路和一非同步控制电路于一逐次逼近式模拟数字转换器的逐次逼近式模拟数字转换器和校正方法。

根据本发明的一实施例提供了一种逐次逼近式模拟数字转换器。上述逐次逼近式模拟数字转换器包括一模拟电路以及一数字控制电路。数字控制电路会耦接上述模拟电路。数字控制电路包括一校正电路、一存储器装置，以及一非同步控制电路。校正电路可用以执行一校正操作。存储器装置会耦接上述校正电路，以及储存上述校正电路执行上述校正操作产生的校正信息。非同步控制电路会耦接上述存储器装置，以及从上述存储器装置读取上述校正信息。当上述逐次逼近式模拟数字转换器藉由上述非同步控制电路进行操作前，上述非同步控制电路会先根据上述校正信息，消除上述逐次逼近式模拟数字转换器中的非理想效应。

根据本发明一些实施例，数字控制电路更包括一选取电路。选取电路会耦接上述校正电路以及上述非同步控制电路，以及根据一控制信号，选择启动上述校正电路或上述非同步控制电路来进行上述逐次逼近式模拟数字转换器的操作。根据本发明一些实施例，选取电路会从一控制压点，接收上述控制信号。根据本发明一些实施例，在执行上述校正操作前，选取电路会选取上述校正电路，对上述逐次逼近式模拟数字转换器进行校正，以产生上述校正信息。

根据本发明一些实施例，校正电路可是一同步控制电路。当同步控制电路被选取时，上述逐次逼近式模拟数字转换器在一同步模式进行操作。当非同步控制电路被选取时，上述逐次逼近式模拟数字转换器在一非同步模式进行操作。

根据本发明一些实施例，上述模拟电路包括一采样保持电路、一数字模拟转换器，以及一比较器。采样保持电路会耦接上述数字控制电路。数字模拟转换器会耦接上述数字控制电路。比较器会耦接上述采样保持电路和上述数字模拟转换器。