[发明专利]一种光学扫描器测试装置及测试方法

说明书

本发明涉及一种光学扫描器测试装置及测试方法，光源、滤光片和物镜依次同轴设置，被测扫描器反射镜置于物镜的光路上，平行光管位于被测扫描器反射镜的反射光路上，成像CCD像面位于平行光管的反射光路上；点光源经过物镜使光线入射到被测光学扫描器的反射镜，反射镜的反射光线经过平行光管的反射在成像CCD像面上成像，图像采集系统采集成像CCD像面6的图像信号。该测试装置使光线入射到反射镜面，当光学扫描器带动反射镜旋转θ角度时，经过反射的反射光线与入射光线夹角为2θ角度。再通过使用焦距为f的光学镜头来接收反射光线，其在成像CCD像面的位移为L，通过几何光学解算，即可计算出光学扫描器转动的角度。

技术领域

本发明属于光学扫描器测试的技术领域，涉及一种光学扫描器测试装置及测试方法，是一种光学扫描器扫描角度、扫描速度均匀性的测试方法。

背景技术

光学扫描器作为高速、高均匀性扫描装置，广泛应用于激光打标机、线列成像组件等设备中，光学扫描器的扫描角度、扫描速度均匀性等参数，对实际应用影响很大，因此本发明设计了一种有效的光学光学扫描器功能、性能测试装置，能够用于对光学光学扫描器的测试，为光学光学扫描器选型及测试提供依据。

发明内容

要解决的技术问题

为了避免现有技术的不足之处，本发明提出一种光学扫描器测试装置及测试方法，能够对光学扫描器的扫描角度、扫描速度均匀性等进行准确测量。

技术方案

一种光学扫描器测试装置，其特征在于包括光源1、滤光片2、平行光管3、物镜4、成像CCD像面6和图像采集系统；光源1、滤光片2和物镜4依次同轴设置，被测扫描器反射镜5置于物镜4的光路上，平行光管3位于被测扫描器反射镜5的反射光路上，成像CCD像面5位于平行光管3的反射光路上；点光源经过物镜4使光线入射到被测光学扫描器的反射镜5，反射镜5的反射光线经过平行光管3的反射在成像CCD像面6上成像，图像采集系统采集成像CCD像面6的图像信号。

所述图像采集单元采用CameraLink图像采集卡，采用LVDS接口对光学扫描器实行启停控制。

所述成像CCD像面6采用高速面阵CCD相机STC-CMC_CMB200PCL。

一种利用所述光学扫描器测试装置进行测试的方法，其特征在于步骤如下：

步骤1：测试装置上电后，将光学扫描器放置于姿态调整单元，控制光学扫描器处于零位锁定状态；

步骤2：通过姿态调整单元，调整扫描电机使得被测扫描器反射镜5的反射光线经过物镜4和平行光管3后能够会聚到成像CCD像面6中心位置；

步骤3：启动光学扫描器，待光学扫描器稳定工作后，以闪频脉冲控制信号控制目标光源的光信号输出，图像采集以光学扫描器方向信号为外同步信号，采集成像CCD像面6的图像信号；

所述闪频脉冲控制信号的脉冲时间为10us，周期为500us；

步骤4：图像采集单元对采集到的图像数据进行数据处理，解算出不同时刻的光线位置，再推算出光学扫描器的扫描角度，进而解算出光学扫描器的扫描角度和扫描速度等参数：

步骤1)获取图像：建立1024×720数组存储图像灰度值，数组坐标代表图像像素点坐标，数组的值代表图像中该点位置的灰度值：

Pimage[x][y]＝Pgray

步骤2)图像滤波：对回去的图像数组进行预处理，去除噪点：

步骤3)图像二值化处理：将灰度图像转换为二值图