[发明专利]一种测试批次产品UART通讯兼容性的方法及装置

说明书

本发明公开了一种测试批次产品UART通讯兼容性的方法及装置，属于通信领域的兼容性测试技术。所述方法的关键是根据芯片设计预期的批次产品内部时钟极限值(最大值和最小值)，计算和配置测试设备可正常通讯的参数极值，对被测样品进行测试，测试通过，代表该批次产品的设计合理，预留裕量充分；如果测试失败，进一步分析被测样品的内部时钟是否符合预期，以及按照内部时钟值配置测试设备通讯参数，测试通讯是否正常。通过本方法可以大幅度降低抽测样品的数量，且评估结果更加准确。

技术领域

本发明涉及通信领域的兼容性测试技术，特别涉及一种测试批次产品UART通讯兼容性的方法及装置。

背景技术

通用异步收发传输器(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter)，通常称作UART，是一种通用串行数据总线，用于异步通讯。该总线双向通信，可以实现全双工传输和接收，且总线结构简单，仅需接收(Rx)/发送(Tx)两条数据线。

由于总线上没有时钟信号，所以通讯双方必须在定时的时间发送和接收，并且每一个设备都必须有单独的时钟用于计时。当两台通讯设备间出现微小的不同步时，可以通过传输停止位的时机进行时钟同步的校准，当两台通讯设备间出现较大的时钟不同步时，则无法利用停止位的时机进行时钟校准，导致出现通讯失败。此外，在传输协议层面，双方会约定一些通讯参数用于同步接收和发送，当双方时钟不同步时，也会导致漏接数据或通讯超时，导致通讯失败。

以往为了保证通讯双方时钟同步，采用的是在芯片外接高精度晶振的方法。但是，随着降低芯片成本的要求越来越高，以及芯片生产制作工艺的提高，外接晶振的方法逐步被芯片内部的内部时钟方法所替代。

芯片和晶振的材料是不同的，因此在误差精度上差异也很大。晶振的误差精度一般为PPM(百万)级别，不同批次产品之间，同批次的不同样品之间的误差极小，进行UART通讯协议测试时，无需考虑样品间的差异，仅需选择任意一颗样品进行通讯协议测试即可。而同批次不同样品之间，芯片内部时钟差异较大，一般为百分之几的级别。采用以往从批次产品中随机抽测一个样品的方式进行UART通讯协议测试的方法已不可行，必须进行UART通讯兼容性的测试。增多随机抽测样品数量，虽然可以提高准确度，但评估时间也随之加大，效率很低。

综上，为了保证使用芯片内部时钟批次芯片产品的UART通讯兼容性，需要设计一种能够准确而快速测试批次芯片产品UART通讯兼容性的方法和装置。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试批次产品UART通讯兼容性的方法及装置，用以解决目前测试使用芯片内部时钟的批次芯片产品UART通讯兼容性准确性差、效率不高的问题。方法的关键是根据芯片设计预期的批次产品内部时钟误差范围，计算和配置测试设备延时等待通讯参数，对被测样品进行延时等待块发送时间测试，测试通过，代表该批次产品的设计合理，预留裕量充分；如果测试失败，进一步分析被测样品的内部时钟是否符合预期，设计误差范围，不符合，测试失败；符合，按照内部时钟值与预期设计时钟值的误差计算和配置测试设备延时等待通讯参数，测试通讯是否正常。通过本方法可以大幅度降低抽测样品的数量，且评估结果更加准确。

本发明实施例提供的一种测试批次产品UART通讯兼容性的方法包括：

步骤(1)根据芯片设计的时钟误差范围，计算可以正常通讯的测试环境中的测试设备的延时等待通讯参数；

步骤(2)根据步骤(1)中的延时等待参数配置测试设备，使用测试设备对被测样品进行UART延时等待块发送时间测试，记录测试结果；

步骤(3)对步骤(2)中的测试结果进行分析，测试通过，表示该批次样品UART通讯兼容性测试通过；测试不通过，继续执行步骤(4)；

步骤(4)测量被测样品的内部时钟，如果不符合芯片设计预期，则该批次样品UART通讯兼容性测试不通过；如果符合芯片设计预期，则继续步骤(5)；