[发明专利]待测试数据获取方法、装置、介质、电子设备

说明书

本发明涉及数据分析技术领域，揭示了一种待测试数据获取方法、装置、介质及电子设备，该方法实施在当前节点中，待测试数据用于执行测试任务，该方法包括：从测试数据来源节点中确定出待定测试数据来源节点；针对每一待定测试数据来源节点，获取与当前节点的数据交换量和数据交换次数；基于数据交换量和数据交换次数从多个待定测试数据来源节点中确定出目标测试数据来源节点；获取目标测试数据来源节点中数据的标签；获取用户输入的测试任务描述；基于标签和测试任务描述获取待测试数据。此方法下，先确定待测试数据的获取节点，再根据节点中数据的标签从节点中获取待测试数据，保障了待测试数据获取的准确性，提高了待测试数据的获取效率。

技术领域

本发明涉及数据分析领域，特别涉及一种待测试数据获取方法、装置、介质及电子设备。

背景技术

随着软件和信息产业的发展，软件的开发规模和复杂度越来越高；同时，由于市场竞争的加剧和用户的需求越来越难以满足，对软件的功能提出了更高的要求，软件不得不经常更新以增加新功能。当一个软件中的功能集成到一定程度，就可以将一个软件称之为系统。为了测试这些系统，要选择一些测试数据输入到系统中。然而，这些系统的组件、单元、功能等通常是很庞大的，每次测试不可能将所有这些组件、单元、功能等都测试一遍。为了使得测试结果更有针对性，一般来说，每次测试仅针对这些组件、单元、功能其中之一进行测试。

在现有技术的实现中，为了完成一项测试任务，都要获取相关的测试数据，获取测试数据的方式主要是从系统的上下游节点的庞杂数据中，人为选择出一些与该项测试任务相关的数据，然后输入系统进行测试，然而系统数据对人来说是不友好的，在选择数据时常常会出错，即使选择的数据是正确的，由于数据量过大，从中选择合适的数据往往也会浪费大量时间，严重降低工作效率。

现有技术的缺陷在于，一般都需要人工来选择数据进行测试，获取到的数据适合用来测试的比例低，测试数据的获取准确率较低，测试数据的获取效率低下。

发明内容

在数据分析技术领域，为了解决相关技术中存在测试数据获取效率低下的技术问题，本发明提供了一种待测试数据获取方法、装置、介质及电子设备。

根据本申请的一方面，提供了一种待测试数据获取方法，所述方法实施在当前节点中，所述待测试数据用于执行测试任务，所述方法包括：

从所有与当前节点之间建立通信的测试数据来源节点中确定出与所述测试任务匹配的多个待定测试数据来源节点，所述测试数据来源节点中包括数据，所述数据具有标签；

针对确定出的每一待定测试数据来源节点，获取该待定测试数据来源节点与所述当前节点在预定时间段内的数据交换量和数据交换次数；

基于所述数据交换量和数据交换次数从所述多个待定测试数据来源节点中确定出用于从中获取待测试数据的目标测试数据来源节点；

获取所述目标测试数据来源节点中数据的标签；

获取用户输入的测试任务描述；

基于所述标签和所述测试任务描述获取待测试数据。

根据本申请的另一方面，提供了一种待测试数据获取装置，所述装置属于当前节点，所述待测试数据用于执行测试任务，所述装置包括：

第一确定模块，被配置为从所有与当前节点之间建立通信的测试数据来源节点中确定出与所述测试任务匹配的多个待定测试数据来源节点，所述测试数据来源节点中包括数据，所述数据具有标签；

第一获取模块，被配置为针对确定出的每一待定测试数据来源节点，获取该待定测试数据来源节点与所述当前节点在预定时间段内的数据交换量和数据交换次数；

第二确定模块，被配置为基于所述数据交换量和数据交换次数从所述多个待定测试数据来源节点中确定出用于从中获取待测试数据的目标测试数据来源节点；