[发明专利]异常喷嘴的检测方法及装置

权利要求书

1.一种异常喷嘴的检测方法，其特征在于，包括：

获取像素基板的灰阶图像，所述灰阶图像包括多个子灰阶图像，所述子灰阶图像与所述像素基板上的像素或像素单元一一对应；

根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置；

根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；

根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述像素基板上设置有标记点；所述灰阶图像包括所述标记点对应的图像；

在所述根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置之前，所述方法还包括：

根据所述标记点的位置，确定所述像素基板上每个像素或像素单元的位置；

根据所述标记点对应的图像的位置，确定所述灰阶图像中每个子灰阶图像的位置；

建立所述灰阶图像中每个子灰阶图像与所述像素基板上每个像素或像素单元之间的位置对应关系。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置，包括：

根据所述异常子灰阶图像的位置及所述位置对应关系，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取像素基板的灰阶图像之前，所述方法还包括：

获取所述像素基板上的像素或像素单元的尺寸信息；

根据所述像素或像素单元的尺寸信息，设置光学扫描的扫描范围；

所述获取像素基板的灰阶图像，包括：

根据所述光学扫描的扫描范围，获取所述像素基板上所述像素或像素单元的灰阶图像。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置，包括：

将所述灰阶图像的各个所述子灰阶图像进行比较，确定存在缺陷的异常子灰阶图像的位置。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将所述灰阶图像的各个所述子灰阶图像进行比较，确定存在缺陷的异常子灰阶图像的位置，包括：

将各个所述子灰阶图像的灰阶数值进行比较；

根据所述比较的结果，确定灰阶数值异常的子灰阶图像；

通过所述灰阶数值异常的子灰阶图像确定所述异常子灰阶图像的位置。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述像素或像素单元的位置与喷嘴之间设有对应关系；

所述根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴，包括：

根据所述像素或像素单元的位置与所述喷嘴之间的对应关系，通过所述异常像素或异常像素单元的位置确定所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴；

在所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定所述异常喷嘴。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述在所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定所述异常喷嘴，包括：

将所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴与正常像素或正常像素单元对应的多个喷嘴进行比较；

通过至少一次的对比迭代，在所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定所述异常喷嘴。

9.一种异常喷嘴的检测装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取像素基板的灰阶图像，所述灰阶图像包括多个子灰阶图像，所述子灰阶图像与所述像素基板上的像素或像素单元一一对应；

图像位置确定模块，用于根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置；

像素位置确定模块，用于根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；

异常喷嘴确定模块，用于根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。

10.一种异常喷嘴的检测装置，其特征在于，所述装置包括：

光学检查系统，用于获取像素基板的灰阶图像，所述灰阶图像包括多个子灰阶图像，所述子灰阶图像与所述像素基板上的像素或像素单元一一对应；

与所述光学检查系统连接的控制器，用于根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像；根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。