[发明专利]后置分光瞳激光差动共焦镜组轴向间隙测量方法与装置有效

专利信息
申请号: 201811342537.0 申请日: 2018-11-13
公开(公告)号: CN109186479B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 赵维谦;杨帅;王允;卜乙禄 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 代理人: 邬晓楠
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 后置 分光 激光 差动 共焦镜组 轴向 间隙 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.后置分光瞳激光差动共焦镜组轴向间隙测量方法,其特征在于:具体步骤如下:

步骤一、点光源(1)发出的测量光束经分束镜(2)、准直透镜(4)和会聚透镜(5)后形成测量光束照射在被测透镜组(6)上;

步骤二、调整被测透镜组(6),使被测透镜组(6)与测量光束共光轴,由被测透镜组(6)反射回来的光通过会聚透镜(5)和准直透镜(4)后被分束镜(2)反射,被后置光瞳遮挡一半,透过的一半光束则聚焦为测量光斑,进入分光瞳差动共焦探测系统(11);

步骤三、沿光轴方向移动被测透镜组(6),使测量光束的焦点与被测透镜组(6)内各透镜的表面顶点位置,即每个透镜的前表面顶点和后表面顶点重合;在各表面顶点位置扫描被测透镜,由分光瞳差动共焦探测系统(11)得到差动共焦响应曲线,通过差动共焦响应曲线(17)的过零点来确定测量光束精确定焦在被测透镜组(6)内各透镜的表面顶点位置,并将顶点位置依次记为Z1,Z2,…,Zm,m为被测透镜组(6)内透镜的总透光面数;

步骤四、根据建立的光线追迹及其补偿模型,依次计算得到被测透镜组(6)内第N个表面SN与第N+1个表面SN+1之间的轴向间隙dN=lN′,lN′为SN顶点到SN出射线与光轴交点的距离。

2.根据权利要求1所述的后置分光瞳激光差动共焦镜组轴向间隙测量方法,其特征在于:将激光差动共焦技术与光线追迹技术有机融合,建立光线追迹及其补偿模型,消除各层析定焦表面参数间的相互影响,进而计算得到被测轴向间隙;公式(1)中,rN为第N个表面SN的曲率半径,nN为第N个表面SN与第N+1个表面SN+1之间的材料折射率,dN-1为第N-1个表面SN-1与第N个表面SN之间的轴向间隙,lN′为SN顶点到SN出射线与光轴交点的距离,uN′为SN出射光线与光轴的夹角;

根据以上公式可消除各表面间参数对测量结果的影响,从而精确计算出第SN与SN+1之间的轴向间隙dN=lN′。

3.根据权利要求1所述的后置分光瞳激光差动共焦镜组轴向间隙测量方法,其特征在于:采用差动共焦特性曲线零点附近的测量数据进行线性拟合,通过拟合所得直线的绝对零点来进行快速触发定焦,提升定焦精度、定焦速度和抗散射能力。

4.如权利要求1所述的后置分光瞳激光差动共焦镜组轴向间隙测量方法,其特征在于:所述后置光瞳为D形后置光瞳(7)或圆形后置光瞳(30),实现后置分光瞳激光差动共焦镜组轴向间隙测量。

5.如权利要求1所述的后置分光瞳激光差动共焦镜组轴向间隙测量方法,其特征在于:在光路中增加环形光瞳(3)对测量光束进行调制,形成环形光束,降低测量元件参数时波像差对测量光束的影响,减少测量误差。

6.后置分光瞳激光差动共焦镜组轴向间隙测量装置,包括点光源(1),其特征在于:包括分束镜(2)、准直透镜(4)、会聚透镜(5)、分光瞳、分光瞳差动共焦探测系统(11),主控计算机(24)、电机驱动系统(25)、直线导轨(26)和五维调整架(27);点光源(1)发出的测量光束依次经过分束镜(2)、环形光瞳(3)、准直透镜(4)和会聚透镜(5)后照射在被测透镜组(6);由被测透镜组(6)反射回来的光通过会聚透镜(5)、准直透镜(4)和环形光瞳后经分光瞳进入分光瞳差动共焦探测系统(11);主控计算机(24)控制电机驱动系统(25)进而控制五维调整架(26)的移动,分光瞳差动共焦探测系统(11)将探测结果传输给主控计算机(24)。

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