[发明专利]基于键合的薄膜体声波谐振器及其加工方法在审
| 申请号: | 201811342403.9 | 申请日: | 2018-11-13 |
| 公开(公告)号: | CN109150135A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
| 发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 杭州左蓝微电子技术有限公司 |
| 主分类号: | H03H9/17 | 分类号: | H03H9/17;H03H9/02 |
| 代理公司: | 北京中知法苑知识产权代理事务所(普通合伙) 11226 | 代理人: | 李明 |
| 地址: | 310018 浙江省杭州市杭州经济技术开发*** | 国省代码: | 浙江;33 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 金属柱 薄膜体声波谐振器 键合 第二电极 第一电极 堆叠结构 压电薄膜 电连接 压电层 衬底 牺牲层材料 相对设置 空腔 加工 清洁 保证 | ||
1.一种基于键合的薄膜体声波谐振器,其特征在于,包括:
衬底;
设置在所述衬底上的第一金属柱和第二金属柱;以及
设置于所述第一金属柱和所述第二金属柱之间的压电薄膜堆叠结构,其中,所述压电薄膜堆叠结构包括第一电极、压电层和第二电极,所述压电层位于所述第一电极和所述第二电极之间,且所述第一电极和所述第二电极相对设置,所述第一电极还与所述第一金属柱电连接,所述第二电极还与所述第二金属柱电连接。
2.根据权利要求1所述的基于键合的薄膜体声波谐振器,其特征在于,所述第二电极的第一端位于所述压电层朝向所述衬底的表面,所述第二电极的第二端与所述第二金属柱电连接,且所述第二电极的第二端与所述第一电极的表面相齐平。
3.根据权利要求1所述的基于键合的薄膜体声波谐振器,其特征在于,所述第一电极的材料为钨、钼、铂白金、钌、铱、钛钨、铝之一。
4.根据权利要求1所述的基于键合的薄膜体声波谐振器,其特征在于,所述压电层的材料为氮化铝、氧化锌、铌酸锂、钽酸锂之一。
5.根据权利要求1所述的基于键合的薄膜体声波谐振器,其特征在于,所述衬底的材料为单晶硅、多晶硅、玻璃、石英或蓝宝石。
6.一种基于键合的薄膜体声波谐振器的加工方法,其特征在于,包括以下步骤:
在衬底上沉积电极材料和压电材料,构建压电薄膜堆叠结构,其中,所述压电薄膜堆叠结构包括第一电极、压电层和第二电极,所述压电层位于所述第一电极和所述第二电极之间,且所述第一电极和所述第二电极相对设置;
在所述电极材料表面沉积第一薄膜材料;
对所述第一薄膜材料进行图形化,形成用于连接所述第一电极和所述第二电极的通孔;
在所述第一薄膜材料表面沉积金属材料,填充所述通孔,形成用于连接所述第一电极和所述第二电极的金属柱;
去除所述第一薄膜材料;
将所述金属柱和基板进行共熔键合;
剥离所述衬底。
7.根据权利要求6所述的基于键合的薄膜体声波谐振器的加工方法,其特征在于,所述在衬底上沉积电极材料和压电材料,构建压电薄膜堆叠结构,具体包括以下步骤:
在衬底上沉积第二薄膜材料;
在所述第二薄膜材料表面沉积电极材料和压电材料,构建压电薄膜堆叠结构;
所述剥离所述衬底,具体包括以下步骤:
腐蚀所述第二薄膜材料,以使所述衬底与所述压电薄膜堆叠结构分离。
8.根据权利要求7所述的基于键合的薄膜体声波谐振器的加工方法,其特征在于,所述压电薄膜堆叠结构包括第一电极、压电层和第二电极;
所述在所述第二薄膜材料表面沉积电极材料和压电材料,构建压电薄膜堆叠结构,具体包括以下步骤:
在所述第二薄膜材料表面沉积电极材料,进行图形化,构建第一电极;
在所述第一电极表面依次沉积压电材料和电极材料,进行图形化,构建压电层和第二电极。
9.根据权利要求6所述的基于键合的薄膜体声波谐振器的加工方法,其特征在于,还包括以下步骤:将剥离衬底后的器件进行清洗。
10.根据权利要求7所述的基于键合的薄膜体声波谐振器的加工方法,其特征在于,所述第二薄膜材料为二氧化硅、氮化硅或磷硅酸玻璃。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州左蓝微电子技术有限公司,未经杭州左蓝微电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811342403.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





