[发明专利]一种显示面板、点灯检测装置及其控制方法

说明书

本发明提供一种显示面板、点灯检测装置及其控制方法，涉及显示技术领域，用于改善点灯模块和引线组无法自动精确对位的问题。点灯检测装置，包括底座、间隔排布的多个点灯模块以及与所述多个点灯模块中的每个连接的控制组件；所述多个点灯模块中的每个包括检测组件，所述检测组件包括第一导电探头、第二导电探头以及处理单元，所述处理单元通过检测所述第一导电探头和所述第二导电探头之间的阻值，得到点灯模块的偏移量，并将所述偏移量发送至所述控制组件；所述控制组件用于带动该点灯模块移动所述偏移量。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、点灯检测装置及其控制方法。

背景技术

近年来，各种平板显示装置，例如液晶显示装置、等离子显示装置、有机发光二极管显示装置等，由于具有诸如画面质量卓越、重量轻、厚度薄以及功耗低等优点，已经替代了传统的阴极射线管显示装置，成为显示产品的主流。

平板显示装置的制造过程中，在将栅控制芯片和数据控制芯片与显示面板绑定之前，需要使用点灯检测装置对显示面板进行检测，以检测其能否正常工作，是否有亮斑、亮线等不良。

常用的一种检测方法为：点灯检测装置通过底座(PU Base)上的对位相机(AlignCamera)拍摄显示面板上的对位标记(Align Mark)，将点灯检测装置和显示面板初步对位。初步对位后，点灯检测装置中的点灯模块(Probe Block)和显示面板的引线组(Lead Pad)一一对应，并且相互对应的两个点灯模块和引线组接触(Contact)。点灯模块和引线组接触实质上是点灯模块中多个探针中的每个和引线组中多个引线条中的每个一一接触，而探针和引线条能否接触对检测结果至关重要。

现有技术中，在点灯检测装置和显示面板初步对位后，探针和引线条的对位是在显微镜(Scope)下进行手动的调整。由于引线组中相邻引线之间的间距(Pitch)只有几十微米，手动调整导致对位误差较大，且量产过程中易发生偏移，造成信号加载异常。

发明内容

本发明的实施例提供一种显示面板、点灯检测装置及其控制方法，用于改善点灯模块和引线组无法自动精确对位的问题。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一方面，提供一种点灯检测装置，包括底座、间隔排布的多个点灯模块以及与所述多个点灯模块中的每个连接的控制组件；所述多个点灯模块中的每个包括检测组件，所述检测组件包括第一导电探头、第二导电探头以及处理单元，所述处理单元通过检测所述第一导电探头和所述第二导电探头之间的阻值，得到点灯模块的偏移量，并将所述偏移量发送至所述控制组件；所述控制组件用于带动该点灯模块移动所述偏移量。

可选的，所述点灯模块还包括探针组，所述探针组包括多个平行设置的探针；沿所述多个点灯模块的排布方向，所述多个点灯模块中的每个包括的所述第一导电探头和所述第二导电探头设置在所述探针组的两侧。

可选的，沿所述多个点灯模块的排布方向，所述多个点灯模块中的每个包括的所述第一导电探头和所述第二导电探头到所述探针组的距离相等。

可选的，所述底座上设置有滑轨和多个滑块，所述多个点灯模块与所述多个滑块一一对应且固定连接，所述控制组件控制滑块带动点灯模块沿着所述滑轨移动。

第二方面，提供一种采用第一方面任一项所述的点灯检测装置检测的显示面板，包括引线区，所述引线区包括间隔设置的多个引线组，所述多个引线组中的每个包括多条平行设置的引线；所述显示面板还包括多个被检组件，所述多个被检组件与所述多个引线组一一对应；所述多个被检组件中的每个包括第一电阻以及与所述第一电阻的第一端连接的连接线。