[发明专利]一种玻璃微缺陷的检测方法在审
申请号: | 201811341122.1 | 申请日: | 2018-11-12 |
公开(公告)号: | CN109297990A | 公开(公告)日: | 2019-02-01 |
发明(设计)人: | 周先腊;曾涛;欧万平;邓壘;陈佳佳;马磊;田金蓉 | 申请(专利权)人: | 四川旭虹光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/958 | 分类号: | G01N21/958 |
代理公司: | 北京彩和律师事务所 11688 | 代理人: | 闫桑田;刘磊 |
地址: | 621099 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 玻璃样品 微缺陷 光源入射角 玻璃 编码标示 编码步骤 光源照度 随机抽取 序号编码 样品固定 编码器 入射角 光源 判定 清洗 加工 统一 | ||
1.一种玻璃微缺陷检测方法,其包括:
编码步骤,其包括在生产线上随机抽取一片玻璃样品后在样品固定位置进行编码标示的步骤,还包括在将样片加工成固定规格尺寸后在统一固定位置使用编码器进行序号编码的步骤;
清洗步骤;和
检测判定步骤,其包括使用光源照度为5000~10000Lex的光源,以光源入射角度与玻璃样品表面成40°~90°、优选40°~60°的入射角进行检测的步骤。
2.根据权利要求1所述的玻璃微缺陷检测方法,其还包括:反馈步骤,包括将缺陷形态图片、缺陷种类判定、位置显示图示进行输入并生成报告后将报告进行输出反馈的步骤。
3.根据权利要求1或2所述的玻璃微缺陷检测方法,其中,所述清洗步骤还包括烘干的步骤。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的玻璃微缺陷检测方法,其中,所述检测判定步骤还包括检测出缺陷后对缺陷种类进行显微判定的步骤,和/或对缺陷位置进行程序编排计算的步骤。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的玻璃微缺陷检测方法,其中,所述检测判定步骤中,检测环境的洁净度达100000级以上。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的玻璃微缺陷检测方法,其中,所述编码步骤中,所述编码标示包括锡面/非锡面、时间、拉引方向的编码标示。
7.根据权利要求1~6中任一项所述的玻璃微缺陷检测方法,其中,所述编码步骤中,所述固定规格尺寸为400*500cm,优选为216*252mm。
8.根据权利要求1~7中任一项所述的玻璃微缺陷检测方法,其中,所述清洗步骤包括进行超声波清洗的步骤。
9.根据权利要求1~8中任一项所述的玻璃微缺陷检测方法,其中,所述玻璃为浮法玻璃。
10.根据权利要求1~9中任一项所述的玻璃微缺陷检测方法,其中,所述玻璃为3D盖板玻璃。
11.根据权利要求1~10中任一项所述的玻璃微缺陷检测方法,其中,所述微缺陷的大小为0.1mm以下,特别为0.01mm~0.05mm。
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