[发明专利]一种计算高压流体器件绝对渗漏速率的方法

说明书

本发明公开了一种计算高压流体器件绝对渗漏速率的方法，基于高压流体器件的微量渗漏的测试系统，所述的方法具体包括以下步骤：步骤S1：测试系统准备；步骤S2：将测试系统加压到设定压力值P，保持设定压力值P稳定；步骤S3：绘制柱塞42位移‑时间变化曲线；步骤S4：解压、泄压、计算绝对渗漏率。本发明的有益效果是：本发明能够快速精密地直接测定高压流体器件在与实际工作环境类似的压力条件下的绝对渗漏率；本发明测定的绝对渗漏率精度高；本发明结构简单、可操作性强。

技术领域

本发明涉及高压真空装置测试技术领域，具体的说，是一种计算高压流体器件绝对渗漏速率的方法。

背景技术

高压和真空装置是工业、实验室仪器设备中广泛应用，器件由于目前密封技术的局限，不可避免地存在渗漏问题。而在很多情况下，渗漏量和允许渗漏量都是非常小的，现有的渗漏检测技术却不适用于这些场景。例如，气压水浸法、超声波检测法的检测效率低，无法检测微小渗漏。压力衰减法历史悠久，可操作性强，虽然可以用于测定微渗漏并评估密封效果，但无法测出绝对渗漏速率(单位时间内渗漏的流体体积)，虽然可以根据压降估算出渗漏体积，但公式依赖于压力介质的弹性模量。因此若据此计算绝对渗漏速率，需要严格控制压力介质，因此这只是一种间接测定渗漏率的方法。而利用特殊化学气体的检测方法如氦质谱检漏仪，检测下限很低，方便定位渗漏点，但无法准确测量渗漏量。此外许多用于特殊气体或液体的密封器件无法直接检测渗漏或测量渗漏率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种计算高压流体器件绝对渗漏速率的方法，本发明能够快速精密地直接测定高压流体器件在与实际工作环境类似的压力条件下的绝对渗漏率；本发明测定的绝对渗漏率精度高；本发明结构简单、可操作性强。

本发明通过下述技术方案实现：一种计算高压流体器件绝对渗漏速率的方法，基于高压流体器件的微量渗漏的测试系统，所述测试系统包括与检测高压流体器件连接的压力监测系统、分别与压力监测系统连接的高压发生系统和控制与记录系统、与高压发生系统连接的低压输液系统；所述高压发生系统包括高压柱塞泵本体、柱塞以及用于柱塞在高压柱塞泵本体内运动的高压柱塞泵驱动装置，所述高压柱塞泵本体分别与低压输液系统和压力监测系统连接；所述高压柱塞泵驱动装置与控制与记录系统连接；所述柱塞连接有光栅尺传感器，所述光栅尺传感器与控制与记录系统连接；

所述的方法具体包括以下步骤：

步骤S1：测试系统准备；

步骤S2：将测试系统加压到设定压力值P，保持设定压力值P稳定；

步骤S3：绘制柱塞位移-时间变化曲线；

步骤S4：解压、泄压、计算绝对渗漏率。

进一步地，为了更好的实现本发明，所述步骤S1具体包括以下步骤：

步骤S11：向低压输液系统中装入压力介质流体；使得整个流路中灌注压力介质流体；所述压力介质流体为纯净水、压力油中的一种；

步骤S12：灌注结束后，柱塞后移使高压柱塞泵本体腔体内充满液体，当测试系统已经充满液体后，封闭测试系统。

进一步地，为了更好的实现本发明，所述步骤S2具体是指：控制控制与记录系统驱动高压柱塞泵驱动装置使得柱塞移动；压力监测系统5对压力值进行监测，当压力值达到系统设定压力值P时，停止驱动高压柱塞泵驱动装置。

进一步地，为了更好的实现本发明，所述步骤S3具体包括以下步骤：

步骤S31：光栅尺传感器记录当前柱塞的位移S1，计时器进行时间记录；

步骤S32：绘制柱塞位移-时间变化曲线；

进一步地，为了更好的实现本发明，所述步骤S4具体是指：

控制与记录系统控制柱塞复位，计算绝对渗漏率：